掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
飛納電鏡能譜一體機 phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。
更新時間:2025-10-31
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-10-31
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-10-31
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-10-28
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-10-28
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-10-28
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-10-28
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-10-28
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-10-28
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-10-28
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-10-28
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業(yè)計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅，并且能夠在生產周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
更新時間:2025-10-28
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-10-27
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-10-27
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2025-10-27
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2025-10-27
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-10-27
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-10-27
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-10-27
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-10-27
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-10-27
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-10-27
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-10-27
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-10-27
fei nova nano sem 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微
更新時間:2025-10-27
fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計，配備高穩(wěn)定分辨率平臺，可滿足大
更新時間:2025-10-27
日本電子jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為200mm的樣品。
更新時間:2025-10-27
jsm-6610分析型掃描電子顯微鏡與日本電子公司的元素分析儀（eds）組合于一體。結構緊湊的eds由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
更新時間:2025-10-27
掃描電鏡jsm-7610f是日本電子兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發(fā)射掃描電鏡，集成了當今掃描電鏡的全部前沿技術，最大200na的大電流在保證高分辨率的同時，得到高速樣品分析結果，空間分辨率極高，對導電性差的樣品也有很多解決辦法。jsm-7600f自動化程度高，操作直觀方便。了解更多咨詢：q -6154
更新時間:2025-10-27
lmu/lmh是一款基于鎢燈絲掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。tescan的獨特技術是基于一個完全集成的edx系統(tǒng)，能以非?？斓乃俣葓?zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實現(xiàn)了以前所未有的采集速度完全自動化的數(shù)據采集，并得到快速、準確和可靠的結果。
更新時間:2025-10-27
jsm-7001f熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時間:2025-10-27
掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率高達3萬倍，采用背散射電子探測器（固態(tài)型）非導電性樣品，不經過前處理即可直接觀察分析-標準模式-充電式還原模式樣品交換1分鐘內即可獲取圖像-高，低真空系統(tǒng)提供背散射電子圖像含水分樣品可選配冷卻載臺不經過前處理實時觀察分析。q -6154
更新時間:2025-10-27
深圳市瑞盛科技是韓國賽可公司在中國區(qū)域的戰(zhàn)略合作伙伴，一起致力于廣大中小企業(yè)分析檢測的專業(yè)設備提供商,賽可公司研發(fā)生產的迷你掃描電鏡實現(xiàn)了大電鏡的小型化處理，結構緊湊操作便捷。 q -6154
更新時間:2025-10-27
賽可臺式掃描電鏡mini-sem放大倍數(shù)高（相對光學顯微鏡）、成像速度快、大景深、體積小巧、操作簡便、價格便宜等。q -6154
更新時間:2025-10-27
韓國進口掃描電鏡mini-sem最大放大倍率10萬倍 、采用二次電子和背散射電子雙重探測器 、加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高 、非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析 、圖像景深高，立體感強，分辨率高 、支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-10-27
賽可掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。q -6154
更新時間:2025-10-27
日本電子掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡,全新設計的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求，jsm-6010的操作設計，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。 q -6154
更新時間:2025-10-27
臺式掃描電鏡sne-3200最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-10-27
臺式掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率3萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-10-27
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