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飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù)，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。 
關(guān)鍵詞：掃描電鏡
實時分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復雜的，對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應用，研發(fā) 需要不斷改進質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現(xiàn)的問題。 ChemiSEM 技術(shù)的實時分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了獨特的優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時始終在后臺收集成分數(shù)據(jù)，逐步建立樣品更全面和詳 細的信息，幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問題。實時定量面掃：不再有
實時定量面掃：不再有分析干擾 傳統(tǒng)的元素分析中，復雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時得到精確的結(jié)果。例 如，一個峰的信號有時會被識別為兩個元素，產(chǎn)生錯誤，干擾樣品QC 問題的判斷。 憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實驗室團隊實現(xiàn)準確的 元素識別和量化—— 即使在處理多個重疊元素時也是如此。
ChemiSEM 定量面掃：ChemiSEM 技術(shù)自動處理原始信號，生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析，能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用利的算法同時處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號，從而可以實時顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結(jié)果。
無偏差相分析 傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對樣品的假設(shè)，當存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時， 這可能會是一個問題。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術(shù)中的一項新功能）后，可以避免這種情況。復雜樣 品的分析能夠做到完全無偏差，可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果，系統(tǒng)地識別每個獨 立的相。隨后，數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預定義的情況下自動運行，無需豐富經(jīng)驗 即可定位次要/微量元素，明確識別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。
使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析，每個相的能譜成分被自動提取和計算，可以將不同礦物相有效區(qū)分。
自動樣品漂移校正 成分分析過程中，準確和有效的定量結(jié)果需要一個正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù)，或者等待樣品停止漂 移后再獲取數(shù)據(jù)，這兩種方式都會降低測試效率。 通過不斷監(jiān)控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正，使高倍率操作和較長 時間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時間和精力，注于更重要的事情：盡 快獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
關(guān)鍵詞：掃描電鏡
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
SEM 與 AFM 是亞納米樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢，實現(xiàn)超高效工作流程，
完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實現(xiàn)的限性能和復雜樣 更多詳細飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面，一鍵掃描更便捷
掃描“形狀”自定義
大樣品全景觀測
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適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
更容易，更全面，更準確的物相分析 更多詳細飛納 FiberMetric 纖維系統(tǒng)
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