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關(guān)鍵詞：掃描電鏡
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
SEM 與 AFM 是亞納米樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)超高效工作流程，
完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實(shí)現(xiàn)的限性能和復(fù)雜樣 更多詳細(xì)ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù)，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡(jiǎn)化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布 更多詳細(xì)適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析 更多詳細(xì)飛納 FiberMetric 纖維系統(tǒng)
更快、更好的纖維分析纖維系統(tǒng)使得直接觀察和測(cè)量微米、納米纖維變得前所未有的快捷、簡(jiǎn)單。 更多詳細(xì)
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