薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

FFR-uProbe微米級(jí)薄膜表征
更新時(shí)間:2025-12-16
便攜式光學(xué)膜厚儀
fr-portable 便攜式膜厚儀主要由以下系統(tǒng)組成:α白熾-led混合集成式光源系統(tǒng),通過內(nèi)嵌式微處理器控制,使用壽命超過20000小時(shí)。小型光譜儀,光譜范圍370nm –1050nm,分辨精度可達(dá)3648像素, 16位級(jí) a/d 分辨精度;配有usb通訊接口;β) fr-monitor膜厚測(cè)試軟件系統(tǒng),
更新時(shí)間:2025-12-16
掃描型光學(xué)膜厚儀
fr-scanner 掃描型光學(xué)膜厚儀主要由以下系統(tǒng)組成:a) 光學(xué)光源裝置小型低功率混合式光源本系統(tǒng)混合了白熾燈和led燈,最終形成光譜范圍360nm- 1100nm;該光源系統(tǒng)通過微處理控制,光源平均壽命逾10000小時(shí);
更新時(shí)間:2025-12-16
紫外高分辨率膜厚儀
fr-basic vis/nir基礎(chǔ)型膜厚儀(紫外/近紅外-高分辨率)光譜范圍:350-1000nm :α)鹵鎢光源系統(tǒng)tungsten halogen light source 全軟件控制的光譜范圍和輻照強(qiáng)度。小型光譜儀光譜范圍(350nm-1000nm),分辨精度可達(dá)3648像素, 16位級(jí) a/d 分辨精度;配有usb通訊接口;光學(xué)連接器sma 905, 光譜儀功率:110vac/230vac – 60hz/50hz.10mm厚度的氧化鋁面板,每英寸(25mm)間距,配有m6 (or ?”) 口徑鉆孔,用以安裝光學(xué)部件。樣品放置臺(tái),配有多點(diǎn)z軸聚焦和x-y軸移動(dòng)調(diào)節(jié)。反射探針夾具調(diào)節(jié)范圍 (200mm – 200mm – 60mm),可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)精調(diào)節(jié)。β) fr-monitor膜厚測(cè)試軟件系統(tǒng),
更新時(shí)間:2025-12-16
MTM-10 &MTM-20薄膜厚度監(jiān)測(cè)儀
僅適用于cressington sputter和carbon coaters高分辨率厚度監(jiān)視器和厚度控制器基于以下原理:石英晶體的振蕩頻率由其上表面上的沉積膜的質(zhì)量改變。電子測(cè)量該效果允許確定沉積膜的厚度。一旦將蒸發(fā)的材料的密度輸入系統(tǒng),就在范圍為0-999.9納米的四位led顯示器上測(cè)量厚度為0.1nm的分辨率。
更新時(shí)間:2025-12-16
B7348手動(dòng)薄膜厚度監(jiān)視器
一種緊湊,低成本,基于微處理器的薄膜厚度監(jiān)視器,可與瓊脂系列涂層單元配合使用。這是一款緊湊型,低成本,基于微處理器的薄膜厚度監(jiān)測(cè)儀,適用于瓊脂系列涂層裝置。*初設(shè)計(jì)用于電子顯微鏡應(yīng)用,它也適用于復(fù)雜的沉積系統(tǒng)。雙存儲(chǔ)器存儲(chǔ)兩種沉積材料的參數(shù)。該系統(tǒng)使用安裝在晶體支架中的6mhz石英晶體振蕩器??刂茊卧哂袛?shù)字讀數(shù),顯示直接以納米為單位的涂層厚度,分辨率為0.1nm。還可以輸入加工因子以補(bǔ)償樣品和晶體位置的差異。膜厚監(jiān)測(cè)儀的測(cè)量范圍為0至999.9nm,并具有晶體壽命。升級(jí)套件允許在兩個(gè)瓊脂涂層機(jī)之間共享一個(gè)控制單元。
更新時(shí)間:2025-12-16

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑