700Xi PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針
PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇(AES)頻譜分析,俄歇成像和濺射深度分析的復(fù)合材料包括:納米材料,催化劑,金屬和電子設(shè)備。維持基于PHI CMA的核心俄歇儀器性能, 更多詳細(xì)4700 PHI 4700 AES俄歇分析儀
PHI 4700 AES俄歇分析儀在開(kāi)發(fā)新材料及薄膜制程上,為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問(wèn)題,材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。PHI 4700 AES俄歇分析儀使用了A 更多詳細(xì)PHI 4700 AES掃描式俄歇電子能譜儀
在開(kāi)發(fā)新材料及薄膜制程上,為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問(wèn)題,材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。PHI 4700使用了AES分析技術(shù)為基礎(chǔ),搭配靈敏度半球型能量分析 更多詳細(xì)