實(shí)驗(yàn)室耗材

標(biāo)準(zhǔn)樣品

樣品前處理系統(tǒng)

物理力學(xué)及測量

表面分析儀器

輪廓儀

三坐標(biāo)測量機(jī)

蒸汽吸附儀/蒸氣吸附儀

比表面及孔徑分析儀

激光粒度儀、納米粒度儀

在線粒度儀

研磨機(jī)、研磨儀、粉碎機(jī)、球磨機(jī)

微波消解儀

壓片機(jī)

頂空進(jìn)樣器

液體處理工作站(移液工作站)

濃縮儀

凝膠凈化系統(tǒng)（GPC）

X射線能譜儀(EDS)

有機(jī)元素分析儀

疲勞試驗(yàn)機(jī)

沖擊試驗(yàn)機(jī)

俄歇電子能譜（AES）

其它顯微鏡

數(shù)碼顯微鏡

TOC分析儀/總有機(jī)碳分析儀

同位素質(zhì)譜儀

碳硫分析儀(紅外碳硫儀)

X射線衍射儀(XRD)

激光拉曼光譜(RAMAN)

紫外、紫外分光光度計(jì)、紫外可見分光光度計(jì)、UV

紅外光譜(IR、傅立葉)

透射電子顯微鏡（透射電鏡、TEM）

氧氮分析儀（氧氮?dú)浞治鰞x）

硫氮分析儀

輝光放電質(zhì)譜儀

樣品前處理工作站

凝膠滲透色譜(GPC)/凝膠色譜

萬能試驗(yàn)機(jī)

硬度計(jì)

二次離子質(zhì)譜

X光電子能譜儀(XPS/ESCA)

電子探針X射線微區(qū)分析儀(EPMA)

掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM）

金相顯微鏡

立體顯微鏡、體視顯微鏡

掃描電鏡（SEM）

原子吸收光譜(AAS)

液相色譜(LC)

氣質(zhì)聯(lián)用(GC-MS)

氣相色譜儀(GC)

ICP-AES/ICP-OES

電感耦合等離子體質(zhì)譜ICP-MS

光電直讀光譜儀

離子色譜(IC)

液質(zhì)聯(lián)用(LC-MS)

X熒光光譜、XRF（能量色散型X熒光光譜儀）

X熒光光譜、XRF（波長色散型X熒光光譜儀）

固相萃取儀、固相萃取裝置

快速溶劑萃取設(shè)備/快速溶劑萃取儀

成分分析儀器

• 紅外紫外拉曼光譜
• CSONH元素分析儀
• 原子吸收光譜儀AAS
• 熒光光譜儀EDXRF
• 便攜式光譜儀PXRF
• 直讀光譜儀OES
• ICP和ICP-MS
• 離子色譜IC
• 液相色譜和液質(zhì)聯(lián)用儀
• 氣相色譜和氣質(zhì)聯(lián)用儀

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