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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購屬于商業(yè)貿(mào)易行為

半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀

  • 市場(chǎng)價(jià)格: 電議
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 更新時(shí)間: 2025/6/13 13:23:32
  • 生產(chǎn)地: 中國大陸
  • 訪問次數(shù): 3308次
  • 公司名稱: 上海昊量光電設(shè)備有限公司

企業(yè)檔案

上海昊量光電設(shè)備有限公司

5 營業(yè)執(zhí)照已上傳

企業(yè)類型:經(jīng)銷商

公司地址:上海 上海市虹梅路2007號(hào)6號(hào)樓3樓

主營產(chǎn)品:其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、精密光學(xué)元件等,所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究與國防等。近年來,我們也專注于前沿的細(xì)分市場(chǎng),為量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進(jìn)激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

展開更多

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀適用精度可以達(dá) 1nm to 30 microns , Z軸分辨率為亞納米,于此同時(shí),系統(tǒng)提供附著力、熱性能(納米結(jié)構(gòu)界面熱阻)測(cè)量分析。

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡(jiǎn)介

 

薄膜無損檢測(cè)系統(tǒng),半導(dǎo)體無損檢測(cè)系統(tǒng)

姓名:田工(Allen)

電話:185 0166 2513(微信同號(hào))

郵箱:jinquan-tian@auniontech.com

 

 

半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀系統(tǒng)使用獲得利的光聲技術(shù)設(shè)計(jì)無損測(cè)量系統(tǒng)。源自 CNRS 和波爾多大學(xué)的技術(shù)轉(zhuǎn)讓,它依靠激光、材料和聲波之間的相互作用實(shí)驗(yàn)超精密材料物性,薄膜厚度檢測(cè)系統(tǒng)使用無接觸,無損光學(xué)測(cè)量。運(yùn)用激光產(chǎn)生100GHz以上超高頻段超聲波,以此檢測(cè)獲得材料諸如厚度,附著力,界面熱阻,熱導(dǎo)率等。

產(chǎn)品尤其適測(cè)量從幾納米到幾微米的薄層,無論是不透明的(金屬、金屬氧化物和陶瓷),還是半透明和透明的。 這種全光學(xué)無損檢測(cè)技術(shù)(without contact, no damage, no water, no Xray)不受樣品形狀的影響。

產(chǎn)品適用精度可以達(dá) 1nm to 30 microns , Z軸分辨率為亞納米

于此同時(shí),系統(tǒng)提供附著力、熱性能(納米結(jié)構(gòu)界面熱阻)測(cè)量分析

 

半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀產(chǎn)品特點(diǎn):

多種材料適用性

廣泛的材料至關(guān)重要。我們的技術(shù)已證明其能夠測(cè)量許多金屬材料以及陶瓷和金屬氧化物,并且不受外形因素的影響。

                                               

 

 

半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀應(yīng)

半導(dǎo)體行業(yè)
半導(dǎo)體行業(yè)為我們周圍遇到的大多數(shù)電子設(shè)備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進(jìn)行多次薄膜沉積。工業(yè)過程中,厚度測(cè)量和界面表征都是確保質(zhì)量的關(guān)鍵。尤其是半導(dǎo)體行業(yè)中多層/單層不透明薄膜沉積,對(duì)于以上問題,我們針對(duì)提供:
-高速控制檢測(cè)
-無損無接觸測(cè)量
-單層/多層測(cè)量

顯示行業(yè)

不同的技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)主導(dǎo)顯示器的生產(chǎn),而顯示器在我們的日常使用中無處不在。事實(shí)上,由于未來 UHD-8K 標(biāo)準(zhǔn)以及新興柔性顯示器的制造工藝,這不斷擴(kuò)大的行業(yè)存在技術(shù)限制單個(gè)像素仍然是一堆薄層有機(jī)墨水、銀、ITO……在這方面,控制薄層厚度的問題仍然存在。這些問題可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)質(zhì)量缺陷。對(duì)此我們可提供:
對(duì)此類層樣品的獨(dú)特檢查。
提取厚度的可能性。
非破壞性和非接觸式厚度測(cè)量。

薄層沉積

無論是在航空工業(yè)還是醫(yī)療器械制造域,技術(shù)涂層都可用于增強(qiáng)高附加值部件中的某些功能。這些涂層的厚度隨后成為確保目標(biāo)性能的關(guān)鍵因素。

接觸式破壞測(cè)量對(duì)于此域會(huì)帶來特定問題,且受限于待測(cè)樣品形狀因素、曲率等原因,很難控制樣品特性

 

對(duì)此我們可以提供:

不改變樣品形貌無損檢測(cè)(Form factor postage

快速厚度測(cè)量

在線測(cè)量控制

 

部分合作單位

 


關(guān)鍵詞:半導(dǎo)體薄膜無損檢測(cè)儀  薄膜無損檢測(cè)儀  檢測(cè)儀  膜厚儀  

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