掃描探針顯微鏡（SPM）產(chǎn)品及廠家

日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微分析儀
以場(chǎng)發(fā)射 (fe) 電子槍為特色的jeol電子探針顯微分析儀（ epma），帶來了表面分析世界。jxa-8530f在繼承了jxa-8500f的強(qiáng)力硬件（包括 fe 電子槍、電子光學(xué)系統(tǒng)和真空系統(tǒng)）的同時(shí)，采用電腦操作進(jìn)行數(shù)據(jù)的采集和分析，實(shí)現(xiàn)了微區(qū)分析。友好的pc控制操作環(huán)境，使得在極高的放大倍數(shù)下能夠便利地進(jìn)行快速、便捷的分析。 - pc平臺(tái)操作 - 用fe電子槍進(jìn)行高空間分辨率成像 - “click point analysis”功能和用戶菜單（user,s recipe） - 先進(jìn)的操作 - wd/ed組合系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-10-27
布魯克 Innova 掃描探針顯微鏡
innova掃描探針顯微鏡（spm）具有高掃描分辨率、出色品質(zhì)，可應(yīng)用于物理、生命科學(xué)和材料科學(xué)等諸多領(lǐng)域。innova具有很強(qiáng)的靈活性，能以較低成本滿足各種科研應(yīng)用要求。采用du一無二的閉環(huán)掃描線性系統(tǒng)，卓越的設(shè)計(jì)及工藝確保測(cè)量精度以及接近于開環(huán)運(yùn)行時(shí)的噪音水平。innova可以輕松的在90微米掃描管上實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率。集成的高分辨率彩色光學(xué)系統(tǒng)，以及可編程和電動(dòng)z軸載物臺(tái)，使得尋找、對(duì)準(zhǔn)被測(cè)區(qū)域，更換針尖或樣品更加快速簡(jiǎn)便。技術(shù)參數(shù)：
更新時(shí)間:2025-10-27
FastScan 布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡
布魯克原子力顯微鏡詳細(xì)介紹：布魯克 dimension fastscan 掃描探針顯微鏡在不損失dimension® icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像
更新時(shí)間:2025-10-27
Innova 布魯克 Innova 掃描探針顯微鏡（SPM）
布魯克 innova 掃描探針顯微鏡（spm）具有高掃描分辨率、出色品質(zhì)，可應(yīng)用于物理、生命科學(xué)和材料科學(xué)等諸多領(lǐng)域。innova具有很強(qiáng)的靈活性，能以較低成本滿足各種科研應(yīng)用要求。采用du一無二的閉
更新時(shí)間:2025-10-27
MultiMode 8 布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡
布魯克 multimode 8 高分辨掃描探針顯微鏡系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅(jiān)固的機(jī)械設(shè)計(jì)與先進(jìn)的低噪音spm控制電路。spm系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之間的機(jī)械路徑長(zhǎng)度，路徑越短受聲學(xué)和振動(dòng)
更新時(shí)間:2025-10-27
Icon 布魯克 Dimension Icon掃描探針顯微系統(tǒng)
布魯克 dimension icon掃描探針顯微系統(tǒng)的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及材料領(lǐng)域的納米研究中將會(huì)得到廣泛應(yīng)用。dimension icon是dime
更新時(shí)間:2025-10-27
Dimension Edge 布魯克 Dimension Edge 掃描探針顯微鏡
布魯克 dimension edge 掃描探針顯微鏡系統(tǒng)擁有先進(jìn)的技術(shù)，從而使其在運(yùn)行性，功能性，實(shí)用性上達(dá)到zui高水平；*dimension icon平臺(tái)，布魯克 dimension edge
更新時(shí)間:2025-10-27

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