金埃譜科技是比表面積測(cè)量?jī)x,比表面積儀,比表面積測(cè)試儀,比表面積分析儀,比表面積測(cè)定儀,孔徑分析儀,孔隙率測(cè)定儀,比表面儀和微孔分析儀,孔徑分布測(cè)試儀,比表面及孔隙度分析儀國(guó)產(chǎn)實(shí)現(xiàn)真正自動(dòng)化智能化測(cè)試技術(shù)的開(kāi)拓者和引領(lǐng)者,多項(xiàng)獨(dú)特技術(shù)已成為業(yè)內(nèi)廠(chǎng)商仿效典范.
更新時(shí)間:2024-12-27