表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
型號(hào)：mcp-t370中文名稱：低阻抗率計(jì) mcp-t370型 (手提式)英文名稱：loresta-ax廠牌：日東精工分析科技供應(yīng)商：南北貿(mào)易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學(xué)分析科技) 臺(tái)灣總代理相關(guān)網(wǎng)頁
更新時(shí)間:2025-10-25
型號(hào)：mcp-ht800中文名稱：高阻抗率計(jì) mcp-ht800型 (桌上型)英文名稱：hiresta-ux廠牌：日東精工分析科技供應(yīng)商：南北貿(mào)易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學(xué)分析科技) 臺(tái)灣總代理相關(guān)網(wǎng)頁
更新時(shí)間:2025-10-25
型號(hào)：mcp-pd51中文名稱：粉體阻抗測(cè)定系統(tǒng) mcp-pd51英文名稱：mcp-pd51廠牌：日東精工分析科技供應(yīng)商：南北貿(mào)易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學(xué)分析科技) 臺(tái)灣總代理相關(guān)網(wǎng)頁
更新時(shí)間:2025-10-25
產(chǎn)品摘要：mcp-t700特性：基于4探針測(cè)試原理可以精準(zhǔn)而快速的測(cè)試材料的低電阻特性;4-pin測(cè)試原理可以有效消除探頭接觸樣品的接觸電阻及導(dǎo)線的電阻；mcp系列鍍金彈簧探針針距恒定，且與測(cè)試樣品接觸的壓力恒定。用途：用于工程生產(chǎn)、質(zhì)量控制、研發(fā)mcp-t700應(yīng)用域：1、導(dǎo)電涂料
更新時(shí)間:2025-10-25
數(shù)顯重錘式表面電阻測(cè)試儀是通過測(cè)量防靜電產(chǎn)品的電阻，從而檢測(cè)防靜電產(chǎn)品的防靜電能力，sl-030b數(shù)顯重錘式表面電阻測(cè)試儀遵循astm標(biāo)準(zhǔn)d-257測(cè)試方法，測(cè)試時(shí)只需把兩個(gè)重錘放置在需要測(cè)量的物體表面及按下紅色的按鍵，儀器上會(huì)顯示出所測(cè)物的表面電阻值。 特點(diǎn)：電池電壓低于5伏時(shí)，lwbattery指示燈會(huì)亮； 具有數(shù)字顯示； 是測(cè)量環(huán)境溫度、濕度和物體表面電阻為體的多功能測(cè)試儀。
更新時(shí)間:2025-10-23
轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀是判斷發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組有無匝間短路的用儀器，可以全自動(dòng)、手動(dòng)（單向或雙向）測(cè)量轉(zhuǎn)子繞組的電壓、電流、阻抗、功率、相位角等參數(shù)。
更新時(shí)間:2025-10-23
高溫四探針電阻率測(cè)試儀功能介紹：液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針方阻電阻率測(cè)試儀，使用方便；配備軟件電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2025-10-21
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測(cè)試儀適用范圍：適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2025-10-21
硅片高溫方阻測(cè)試儀 廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ito）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù) 硅片高溫方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-10-21
浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷 液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表； 浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷
更新時(shí)間:2025-10-21
直流低電阻測(cè)試儀性能特點(diǎn):5位led顯示，穩(wěn)定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時(shí)間:2025-10-21
智能粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
寧波半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀 按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-10-21
負(fù)極材料粉末電阻率測(cè)試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定；本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
多功能材料電阻率測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置
更新時(shí)間:2025-10-21
通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2025-10-21
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.
更新時(shí)間:2025-10-21
材料低電阻率測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時(shí)間:2025-10-21
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針方阻儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時(shí)間:2025-10-21
方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體，測(cè)量與數(shù)據(jù)分析通過pc軟件完成，粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系
更新時(shí)間:2025-10-21
雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.
更新時(shí)間:2025-10-21
端子電壓降測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范，電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2025-10-21
經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀 適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2025-10-21
ft-310炭素材料電阻率測(cè)試儀四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.
更新時(shí)間:2025-10-21
金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
更新時(shí)間:2025-10-21
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時(shí)間:2025-10-21
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-21
石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治
更新時(shí)間:2025-10-21
粉末電阻率測(cè)試儀 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試
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塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨，概況：(1)適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》
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瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。
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瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦
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電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商根據(jù)國(guó)標(biāo)gb11017-89所規(guī)定的測(cè)試方法和技術(shù)要求制造，用來測(cè)試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率，四端法測(cè)試原理，通過測(cè)試裝置能夠滿足不同線徑之產(chǎn)品測(cè)量其屏蔽層電阻率。
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系列雙電四探針粉末電阻率測(cè)試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí)，粉體空隙率非常小，壓實(shí)密度接近于真密度狀態(tài)，則此時(shí)測(cè)試出來的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.
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覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
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粉塵電阻率測(cè)試儀檢測(cè)方法yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分 粉末電阻率的測(cè)定；標(biāo)配手動(dòng)粉末測(cè)試裝置,測(cè)試粉末時(shí)可以通過裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強(qiáng)等數(shù)據(jù)，自動(dòng)計(jì)算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導(dǎo)率測(cè)量需求..
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電池片電導(dǎo)率測(cè)試儀，采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定； pc軟件界面操作，實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；
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四探針法粉末電導(dǎo)率測(cè)試儀，已知量的粉體，在液壓動(dòng)力下壓縮體積至設(shè)定壓力值或壓強(qiáng)，在線測(cè)量粉體電阻、電阻率、電導(dǎo)率，并記錄數(shù)據(jù).解決粉體難壓片成型或壓片取出測(cè)量誤差.
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參照標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 no.1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；
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