其他產(chǎn)品及廠家

pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái)，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-11-04
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-11-04
Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-11-04
Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2025-11-04
Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-11-04
Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-11-04
Pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-11-04
Pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-11-04
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常，memory mapping空間讀寫(xiě)異常
更新時(shí)間:2025-11-04
MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-11-04
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-11-04
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-11-04
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
更新時(shí)間:2025-11-04
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-11-04
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-11-04
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-11-04
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過(guò)軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-11-04
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問(wèn)題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-11-04
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-11-04
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2025-11-04
出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具
出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具
更新時(shí)間:2025-11-04
德國(guó)萊默爾 Erhardt+Leimer張力信號(hào)放大器,E+L張力變送器
德國(guó)萊默爾 erhardt+leimer張力信號(hào)放大器,e+l張力變送器 cv2201erhardt + leimer是一家面向國(guó)際的私有集團(tuán)公司，其總部位于德國(guó)奧格斯堡。它成立于1919年，到2019年，在 擁有c過(guò)1600名員工。在2019年，他們的營(yíng)業(yè)額達(dá)到1.75億歐元。
更新時(shí)間:2025-11-04
IEC61032試驗(yàn)探棒GB4706.1全套試驗(yàn)指標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指
iec61032試驗(yàn)探棒gb4706.1全套試驗(yàn)指基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
兒童試驗(yàn)彎指19號(hào)試驗(yàn)探棒試具19
深圳兒童試驗(yàn)彎指/19號(hào)試驗(yàn)探棒基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、19號(hào)兒童試驗(yàn)彎指（19號(hào)試驗(yàn)探棒）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈E14燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈E39溫升試驗(yàn)燈座
燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關(guān)燈頭溫升測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進(jìn)口純鎳；結(jié)構(gòu)和特性： 材料的晶粒應(yīng)精細(xì)且有規(guī)則結(jié)構(gòu)，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過(guò)0.019
更新時(shí)間:2025-11-03
IPX56防噴水試驗(yàn)噴頭IPX6強(qiáng)噴水試驗(yàn)裝置
ipx56防噴水試驗(yàn)噴頭/ipx6強(qiáng)噴水試驗(yàn)裝置ipx5防噴水試驗(yàn)噴嘴一、 產(chǎn)品概述：防噴水試驗(yàn)裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)條款要求制作，用于對(duì)具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進(jìn)行測(cè)試
更新時(shí)間:2025-11-03
12.5mm試驗(yàn)探棒IP20C試驗(yàn)探棒12.5試驗(yàn)探球
12.5mm試驗(yàn)探棒|ip20c試驗(yàn)探棒基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)din40050等相應(yīng)條款制作而成。2、12.5mm試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
配電柜3C檢測(cè)用IP4X試具IP40試驗(yàn)探針I(yè)P4X試驗(yàn)探棒
配電柜3c檢測(cè)用ip4x試具/ip40試驗(yàn)探針基本簡(jiǎn)介： 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、d類試驗(yàn)探棒（d類試驗(yàn)針）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
IP10試驗(yàn)探棒IP1X試驗(yàn)探球試具A鋼球探棒
ip10試驗(yàn)探棒/ip1x試驗(yàn)探球基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、a類試驗(yàn)探棒（a類試驗(yàn)探球）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
UL試驗(yàn)彎指UL鉸接試驗(yàn)指PA100A試驗(yàn)探棒
ul試驗(yàn)彎指ul鉸接試驗(yàn)指pa100a探棒基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應(yīng)條款制作而成。2、ul試驗(yàn)彎指是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
IPX34花灑式淋雨試驗(yàn)裝置IPX34手持式防淋水濺水試驗(yàn)裝置
ipx34花灑式淋雨試驗(yàn)裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗(yàn)裝置 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護(hù)等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時(shí)間:2025-11-03
彈簧沖擊器IK碰撞能量試驗(yàn)裝置0.5J彈簧沖擊錘
彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗(yàn)裝置 基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應(yīng)條款制作而成，主要用于檢驗(yàn)家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機(jī)械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
更新時(shí)間:2025-11-03
插座保護(hù)門試驗(yàn)探針1N試驗(yàn)探針保護(hù)門試驗(yàn)探針
插座保護(hù)門試驗(yàn)探針/1n試驗(yàn)探針基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探針是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指甲測(cè)試指甲試驗(yàn)指甲
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指甲測(cè)試指甲 基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標(biāo)準(zhǔn)制作而成。2、試驗(yàn)指甲主要針對(duì)電擊或接觸運(yùn)動(dòng)部件的不可拆卸零件能否經(jīng)受得住正常使用中出現(xiàn)的機(jī)械應(yīng)力，達(dá)到規(guī)定防護(hù)等進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。$r
更新時(shí)間:2025-11-03
深圳標(biāo)試驗(yàn)指針?shù)NGB4706.1試驗(yàn)指標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指棒銷
標(biāo)試驗(yàn)指針?shù)Ngb4706.1試驗(yàn)指基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指針?shù)N是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2025-11-03
陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀SD-21
陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀sd-21用于測(cè)量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無(wú)誤的測(cè)量出來(lái)。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-11-03
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機(jī)型：juki系列機(jī)型
更新時(shí)間:2025-11-03
fixturlaser飛翔AT-100激光對(duì)中儀瑞典AT-100現(xiàn)貨原裝
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