元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家

FT838NB1 5W充電器/適配器IC方案
ft838nb1 內(nèi)飾npn 5w 充電器方案fmd 代理 大量庫(kù)存,聯(lián)系電話:18476656316 曾小姐
更新時(shí)間:2025-11-01
QJ36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀
qj36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀具有價(jià)格低廉、測(cè)量精度高、性能穩(wěn)、使用方便等特點(diǎn),它適用于測(cè)量各種電線、電纜的電阻值、各類線圈、電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻,特別是具有自校功能,提高儀器的精度,省去了操作人員的送檢時(shí)間。因此該儀器廣泛應(yīng)用工廠、科研單位的工作場(chǎng)地和實(shí)驗(yàn)室。
更新時(shí)間:2025-11-01
信號(hào)完整性測(cè)試SI 電源完整性測(cè)試P HDMI接口一致性測(cè)試 USB3.0一致性測(cè)試 以太一致性測(cè)試
spi測(cè)試,硬件測(cè)試服務(wù),信號(hào)完整性測(cè)試,電源完整性測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-31
USB2.0測(cè)試平臺(tái),測(cè)試服務(wù),硬件測(cè)試,一致性測(cè)試 USB3.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 USB3.0眼圖測(cè)試 USB3.0一致性
usb3.0、usb2.0一致性測(cè)試、lfps測(cè)試、lfps測(cè)試、眼圖與抖動(dòng)測(cè)試、ssc測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-31
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備本儀器系統(tǒng)由:電磁鐵、電磁鐵電源、*精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦,控溫儀,系統(tǒng)軟件。
更新時(shí)間:2025-10-31
嘉興DT4C純鐵盤(pán)圓
山西盛龍華磁材有限公司成立于2006年,是以純鐵加工、純鐵銷售為主純鐵貿(mào)易公司,公司每年純鐵銷售量高達(dá)10000噸以上。公司主要經(jīng)營(yíng)電磁純鐵dt系列dt4(a、e、c)及原料純鐵yt0(yt01)系列產(chǎn)品,為用戶提供各種規(guī)格、型號(hào)的電磁純鐵圓鋼、純鐵薄板、純鐵卷料、純鐵中厚板、純鐵鍛材、純鐵冷拔直條、純鐵冷拉光圓,純鐵盤(pán)條、爐料純鐵板坯、爐料純鐵方坯、爐料純鐵圓鋼等。
更新時(shí)間:2025-10-31
奉化 DT4電工純鐵圓鋼  工業(yè)純鐵棒材
山西盛龍華電磁純鐵用于電器、電訊中的各種類型繼電器的電芯、銜鐵軛鐵;盛龍華電磁鐵的鐵芯材料;儀器、儀表導(dǎo)磁元件;直流電機(jī)的鐵芯和殼體;汽車、拖拉機(jī)和車床的 電器或磁件;制動(dòng)器,離合器。磁屛避器材,如各類磁屛避罩或?qū)伪芎,要求高屛避設(shè)備。密封材料等。
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3(NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
PCIE5.0 夾具 驗(yàn)證,調(diào)試和一到性測(cè)試解決方案
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-10-31
元器件模型提取
元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(eda)中,從實(shí)際的元器件(如電阻、電容、晶體管等)或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過(guò)程。這一過(guò)程通常用于電路仿真,以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2025-10-31
英國(guó)abi電路板反求系統(tǒng)
英國(guó)abi re1024電路板反求系統(tǒng)通過(guò)測(cè)試夾、連接器、測(cè)試鉤連接到被測(cè)板上的各個(gè)器件來(lái)實(shí)現(xiàn)。system8 ultimate控制軟件將自動(dòng)指導(dǎo)用戶在被反求電路周圍放置和移動(dòng)測(cè)試夾具,軟件將生成夾具組合次序和夾具移動(dòng)次序,以便反求到電路板上所有可能的連接關(guān)系。用戶也可以修改和重寫(xiě)夾具的自動(dòng)放置、移動(dòng)次序。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板維修檢測(cè)儀
英國(guó)abi電路板維修檢測(cè)儀是專為測(cè)試模擬器件提供的解決方案。它能對(duì)電路板維修檢測(cè)中各種常見(jiàn)的模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測(cè)試,它還具備檢測(cè)所有類型的模擬和數(shù)字組件的眾所周知的手段:非加電v-i 曲線測(cè)試技術(shù)。如用戶只需要后一項(xiàng)v-i曲線功能,請(qǐng)選擇abi-2400測(cè)試模塊。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi手持模擬集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_linearmaster手持模擬集成電路測(cè)試儀可測(cè)試16腳以內(nèi)通用的模擬器件,包括運(yùn)放,光耦,比較器,a/d,d/a,電壓調(diào)節(jié)器及部分特殊模擬芯片;軟件可升級(jí);可顯示元器件單個(gè)管腳的診斷信息;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí);配合compactlink軟件。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板維修測(cè)試儀
英國(guó)abi-3200電路板維修測(cè)試儀是abi-3400的簡(jiǎn)化版。可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測(cè)試。采用獨(dú)特的三維立體v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_chipmaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀可測(cè)40腳以下的數(shù)字集成電路和存儲(chǔ)器,接口集成電路,mcu/mpu等;可識(shí)別無(wú)標(biāo)記或無(wú)法辨別的芯片或列出代換的芯片;可顯示具體某個(gè)腳的故障診斷信息;可進(jìn)行循環(huán)或有條件循環(huán)測(cè)試;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí)。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板在線維修測(cè)試儀
英國(guó)abi-2400電路板在線維修測(cè)試儀是abi-2500的簡(jiǎn)化版。主要具備非加電v-i 曲線測(cè)試技術(shù),適合測(cè)試對(duì)電路板上各種類型的模擬和數(shù)字器件進(jìn)行在線維修測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_swa2048集成電路測(cè)試儀提供二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道:2048路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路;集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè);可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試;三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板檢測(cè)儀
英國(guó)abi-6400電路板檢測(cè)儀為用戶提供了所有通用數(shù)字集成電路(在線/離線)功能測(cè)試的能力。行業(yè)認(rèn)可的測(cè)試技術(shù)組合提供了高水平的故障覆蓋率。專用電路板檢測(cè)軟件提供了額外的工具,以進(jìn)一步加強(qiáng)該設(shè)備的廣泛應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_swa1024集成電路測(cè)試儀提供二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:1024路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道:1024路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:1024路;集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè);可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試;三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_swa512集成電路測(cè)試儀具備二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:512路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道:512路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:512路;集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè);可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試;三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板測(cè)試專用矩陣開(kāi)關(guān)
英國(guó)abi-4400電路板測(cè)試專用矩陣開(kāi)關(guān)具有16x16矩陣接口,提供256個(gè)交叉點(diǎn),任何通道都可以連接,一次高達(dá)16個(gè)獨(dú)立通道。英國(guó)abi-4400矩陣開(kāi)關(guān)還可以用作多路復(fù)用器或多路解復(fù)用器,是低到中等數(shù)量自動(dòng)化測(cè)試需求的經(jīng)濟(jì)替代方案。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi at256集成電路測(cè)試儀最大測(cè)試256管腳元器件;全類型,全品牌檢測(cè)各種類型的元器件,好壞對(duì)比測(cè)試方法:1)元器件之間對(duì)比;2)存儲(chǔ)對(duì)比測(cè)試;豐富可試的測(cè)試條件,測(cè)試條件:電壓,電阻,頻率,測(cè)試波形可調(diào)并組合條件測(cè)試;判定對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)可根據(jù)客戶需求設(shè)定;
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)電路板故障檢測(cè)儀
英國(guó)abi-3400電路板故障檢測(cè)儀可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測(cè)試。采用獨(dú)特的三維立體v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板故障檢測(cè)儀
英國(guó)abibm8300電路板故障檢測(cè)儀具有功能特點(diǎn):硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì),可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試模塊和測(cè)試通道。軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程流程化設(shè)計(jì),可以通過(guò)編程與非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程流程化;完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動(dòng)化故障排查及板級(jí)系統(tǒng)測(cè)試,提高排故和測(cè)試效率。測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板故障測(cè)試儀
英國(guó)abi-bm8400電路板故障測(cè)試儀是一臺(tái)具有豐富測(cè)試功能且易于使用的電路板故障檢測(cè)儀. 它提供了多種電路板故障檢測(cè)功能, 適合對(duì)任何類型的電路板進(jìn)行維修檢測(cè)。英國(guó)abi-bm8400電路板故障檢測(cè)儀包括加電和非加電測(cè)試功能,為電路板測(cè)試工程師提供了強(qiáng)大的測(cè)試能力,隨設(shè)備附帶的免費(fèi)專用測(cè)控軟件功能強(qiáng)大,可實(shí)現(xiàn)電路板測(cè)試信息的采集、記錄和整合,電路板測(cè)試工作的量化管理、信息共享、測(cè)試過(guò)程的可回溯
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi全品種集成電路篩選測(cè)試儀
英國(guó)abi_at256 a4 pro4全品種集成電路篩選測(cè)試儀具備二維集成電路專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;二維電路板專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;三維掃頻v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè);快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件;
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板故障檢測(cè)儀
英國(guó)abi公司的bm8500是一款獨(dú)特的多功能且易于使用的電路板故障測(cè)試儀. 它提供了全面的電路板檢測(cè)功能, 幾乎含蓋了任何類型的電路板的檢測(cè)能力。無(wú)論在電路板的設(shè)計(jì)驗(yàn)證, 生產(chǎn)測(cè)試, 半導(dǎo)體器件測(cè)試, 生產(chǎn)或是一般維修保養(yǎng), 以及你的電路板是模擬還是數(shù)字的, 或是混合型的電路板,。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_at256 a4 pro2集成電路測(cè)試儀具備二維集成電路專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;二維電路板專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:128路;三維掃頻v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:128路集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選,一致性檢測(cè);快速篩選假冒,仿制集成電路及元器件.
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板檢測(cè)專用可編程電源
英國(guó)abi-1200電路板檢測(cè)專用可編程電源是最新開(kāi)發(fā)的最新最好的電源模塊。 這款usb驅(qū)動(dòng)的多功能電源在設(shè)計(jì)和制造方面集中了abi公司35年的卓越經(jīng)驗(yàn),適用于各種測(cè)試和測(cè)量場(chǎng)景:從中小批量生產(chǎn)測(cè)試到預(yù)檢/維護(hù)和電路板故障排除等任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)abi電路板故障檢測(cè)儀
英國(guó)abi-bm8600多功能電路板故障診斷工作站,硬件系統(tǒng)測(cè)試功能化設(shè)計(jì),可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試功能和測(cè)試通道,軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程流程化設(shè)計(jì),可以通過(guò)非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程流程化:保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù),形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程,提高排故和測(cè)試效率。
更新時(shí)間:2025-10-29
英國(guó)ABI-6500電路板故障檢測(cè)儀
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試;64通道v-i曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件);強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
更新時(shí)間:2025-10-29

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