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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購屬于商業(yè)貿(mào)易行為

Photonic-Lattice全檢膜厚Mapping橢偏儀

  • 市場價格： 電議
  • 產(chǎn)品型號： ME-210（-T）
  • 更新時間： 2023/1/3 11:42:19
  • 生產(chǎn)地： 日本
  • 訪問次數(shù)： 417次

    • 公司名稱： 北京歐屹科技有限公司

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企業(yè)檔案

企業(yè)類型：經(jīng)銷商

公司地址：北京歐屹科技有限公司

主營產(chǎn)品：生產(chǎn)，代理，貿(mào)易，技術(shù)服務(wù)

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產(chǎn)品簡介
日本Photonic lattic 通過以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚Mapping橢偏儀，可以做到1000點/分鐘，6寸產(chǎn)品快可以在3分鐘內(nèi)完成，不僅如此，ME-210-T針對透明基板也可測量。

詳細(xì)內(nèi)容

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公司簡介

 

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Photonic-Lattice全檢膜厚Mapping橢偏儀


產(chǎn)品簡介:
 

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常規(guī)橢偏儀通常只能對一點進行膜厚測量，而且單點測量也需要耗費時間，雖然也有可以做到自動掃描檢測整個樣品膜厚狀況的手段，但是點數(shù)和時間以及精度往往無法滿足工業(yè)客戶的需求；

 

對客戶的這一痛點日本Photonic lattic 通過以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚測量橢偏儀， 采用自研的偏光Sensor技術(shù)，可以對透明基板上1nm以下薄膜進行快速、高精度檢測，例如：光掩模板的光阻層、顯示器面板ITO膜或配向膜、晶圓薄膜等膜厚評估。

ME-210-T 的高密度膜厚分布檢測能力，會對先進的薄膜產(chǎn)品有大的用處。

 

可以做到1000點/分鐘，6寸產(chǎn)品快可以在3分鐘內(nèi)完成，不僅如此，ME-210-T針對透明基板也可測量。


 

 


產(chǎn)品特點:


高速/面分布測量

 

大每分鐘1000點以上超高速全面測量膜厚，短時間內(nèi)就可以取得整個產(chǎn)品膜厚和分布圖

 

 

 

 微小域測定（20un左右）

  可簡單測量任意微小區(qū)域

 

 

透明基板上的薄膜厚度也可測量

 適用于玻璃基板上的薄膜測定


關(guān)鍵詞：PHL膜厚測試儀  橢偏儀ME-210-T  全檢膜厚Mapping橢偏儀  

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