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詳細(xì)內(nèi)容
微型電子元器件插件
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。
插件配合金相樣品杯使用。
微型電子元器件插件
規(guī)格
試樣：半導(dǎo)體或微電子器件
夾持尺寸： 10 x 10 mm - 19 x 19 mm
厚度: 高達(dá)1.5 mm
主要優(yōu)勢(shì)
不需要膠或粘結(jié)劑
不刮擦或污染樣品
即時(shí)制樣、加載
不需要額外的工具來夾持試樣
關(guān)鍵詞： 飛納臺(tái)式電鏡 Phenom 微型電子器件插件
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
SEM 與 AFM 是亞納米樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)超高效工作流程，
完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實(shí)現(xiàn)的限性能和復(fù)雜樣 更多詳細(xì)ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù)，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布 更多詳細(xì)飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面，一鍵掃描更便捷
掃描“形狀”自定義
大樣品全景觀測
高清圖像無錯(cuò)位 更多詳細(xì)適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析 更多詳細(xì)
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