日立大型掃描電鏡SU3900
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里,從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分,SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。SEM用途日益擴大,但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品,由于電鏡樣品臺能 更多詳細(xì)日立熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000
此次推出的SU7000采用全新設(shè)計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號來調(diào)整樣品與透鏡之間的距離(工作距離/以下簡稱WD),以獲得最佳的 更多詳細(xì)新型臺式掃描電鏡TM4000
“TM4000”和“TM4000Plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報告等一系列操作過程,大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報告生成功能,觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Microsoft&r 更多詳細(xì)場發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus8200
"Regulus系列"是日立高新技術(shù)的FE-SEM的全新品牌,包括作為SU8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升級 "Regulus8220" "Regul 更多詳細(xì)