ALD當(dāng)今zui 復(fù)雜的薄膜鍍膜技術(shù)。
原子層沉積(ALD)是一種先進(jìn)的薄膜涂覆方法,可用于制造超薄,高度均勻和共形的材料層,以用于多種應(yīng)用。 ALD使用順序,自限和表面受控的氣相化學(xué)反應(yīng)來控制納米/亞納米厚度范圍內(nèi)的薄膜生長。由于成膜機(jī)理–氣體直到與表面接觸才發(fā)生反應(yīng),這意味著膜的生長是通過連續(xù)的原子層從表面“向上”進(jìn)行的– ALD膜致密,裂紋,缺陷和針孔。原子的自由度及其厚度,結(jié)構(gòu)和化學(xué)特性可以精確控制。 ALD過程是數(shù)字可重復(fù)的,并且可以在相對較低的溫度下執(zhí)行。這不僅可以構(gòu)造單一材料層,還可以構(gòu)造摻雜,混合或漸變的層和納米層壓板,而較低的工藝溫度還可以涂覆敏感的材料,例如塑料和聚合物。 ALD材料的范圍很廣,例如從氧化物,氮化物,氟化物,碳化物和硫化物,形成三元化合物,金屬(包括貴金屬),雜化材料和聚合物。
ALD使我們的現(xiàn)代,移動和互聯(lián)生活成為可能。
在過去的幾年中,ALD的應(yīng)用數(shù)量呈指數(shù)增長。如今,結(jié)合摩爾定律和不斷減小的IC(集成電路)器件尺寸,ALD是wei一一種可以制造功能材料層足夠薄但仍具有zui 高質(zhì)量,均勻性,一致性和結(jié)構(gòu)完整性的方法。在當(dāng)今的存儲器,邏輯和硬盤組件中常見的納米級特征和高長寬比結(jié)構(gòu)。簡而言之,ALD使我們的現(xiàn)代移動通信設(shè)備以及越來越緊湊和高效的計算機(jī)成為可能。
ALD正在遍及全球工業(yè)ling域。
除了IC組件制造之外,ALD的其他大規(guī)模工業(yè)應(yīng)用還可以在傳感器,LED和其他III-V器件以及MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))制造中找到。 ALD膜還用于光學(xué)和光電,防銹蝕和腐蝕保護(hù)以及可再生能源應(yīng)用,例如太陽能,該方法為能量存儲和生產(chǎn)(例如高級薄膜電池和燃料電池),生物相容性和醫(yī)療設(shè)備和植入物,生態(tài)包裝材料,防潮和氣密密封劑層,裝飾性涂層以及疏水/親水性涂層的生物活性表面功能化。
PICOSUN®R-200高級ALD鍍膜設(shè)備
Picosun簡介
Picosun是一家全球公司,Picosun的總部位于芬蘭的Espoo,其生產(chǎn)設(shè)施位于芬蘭的Masala(Kirkkonummi)。PICOSUN®ALD設(shè)備專為高產(chǎn)量和高產(chǎn)量而設(shè)計,并且不斷發(fā)展以提高效率。
Picosun適應(yīng)性強(qiáng)其客戶包括zui 大的電子制造商,小型的創(chuàng)新型挑戰(zhàn)者以及全球ling先的大學(xué)。 Picosun的組織機(jī)構(gòu)和種類繁多的ALD解決方案都可以滿足每個客戶的需求。PICOSUN®研發(fā)工具具有獨(dú)特的內(nèi)置可擴(kuò)展性,可確保將研究結(jié)果平穩(wěn)過渡到大批量工業(yè)制造中,而不會出現(xiàn)技術(shù)差距。
Picosun的熱情在于創(chuàng)新。當(dāng)您想與設(shè)備制造商共同創(chuàng)建定制的ALD解決方案,從而引ling行業(yè)發(fā)展時,Picosun是您的合作伙伴。
Picosun獨(dú)特的突破性ALD專業(yè)知識可追溯到ALD技術(shù)本身的誕生。于1974年在芬蘭發(fā)明了ALD方法,并在工業(yè)上獲得了。在高質(zhì)量ALD系統(tǒng)設(shè)計方面擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)。高度敬業(yè)的Picosun人員擁有無與倫比的ALD經(jīng)驗(yàn),并且為ALD的許多做出了貢獻(xiàn)。
ALD主要應(yīng)用:
1.在集成電路上的應(yīng)用:Fin-FET和HKMG工藝在Si襯底上長高K絕緣層HfO2,La2O3,Ta2O5,Al2O3等;電容器金屬電極;晶體管柵電極;TSV電鍍銅前長阻擋層和種子層;
2.在顯示中的應(yīng)用:在Micro-LED中通過在溝槽中長鈍化層來改善光散射性能;在OLED中低溫長防水層。
3.在激光器和功率器件的應(yīng)用:VCSEL側(cè)面長AlN、Al2O3保護(hù)層;GaN高頻器件T Gate刻蝕后去氧化層并鍍上保護(hù)層。
4.驗(yàn)證光刻膠性能:第三方實(shí)驗(yàn)室或者工廠FA部門,涂膠后通過低溫ALD鍍一層很薄的膜來保持住光刻膠的整體形貌,然后通過FIB+TEM等方法來驗(yàn)證光刻膠性能,如果不鍍膜直接上FIB或TEM會破壞光刻膠原有的形貌,無法獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。
5.其他應(yīng)用:MEMS/SAW等做高均勻性鍍膜,鋰電池、醫(yī)療等行業(yè)等粉末鍍膜。
PICOSUN®R-200標(biāo)準(zhǔn)
PICOSUN®R-200標(biāo)準(zhǔn)ALD系統(tǒng)適用于數(shù)十種應(yīng)用的研發(fā),例如IC組件,MEMS器件,顯示器,LED,激光和3D對象,例如透鏡,光學(xué)器件,珠寶,硬幣和醫(yī)療植入物。熱ALD研究工具的市場ling導(dǎo)者。它已成為創(chuàng)新驅(qū)動的公司和研究機(jī)構(gòu)的shou選工具。
敏捷的設(shè)計實(shí)現(xiàn)了zui 高質(zhì)量的ALD薄膜沉積以及系統(tǒng)的zui 終靈活性,可以滿足未來的需求和應(yīng)用。的熱壁設(shè)計具有完全獨(dú)立的入口和儀器,可實(shí)現(xiàn)無顆粒工藝,適用于晶圓,3D對象和所有納米級特征上的多種材料。得益于我們專有的Picoflow™技術(shù),即使在zui 具挑戰(zhàn)性的通孔,超高長寬比和納米顆粒樣品上也可以實(shí)現(xiàn)出色的均勻性。 PICOSUN®R-200 Standard系統(tǒng)配備了功能強(qiáng)大且易于更換的液態(tài),氣態(tài)和固態(tài)化學(xué)物質(zhì)前體源。與手套箱,粉末室和各種原位分析系統(tǒng)集成,無論您現(xiàn)在的研究ling域是什么,或以后可能成為什么樣的研究ling域,都可以進(jìn)行高效,靈活的研究,并獲得良好的結(jié)果。
關(guān)鍵詞:
ALD 原子層沉積