日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術,使其低電壓性能大大提升,同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進一步提升。 更多詳細日立最新熱場掃描電鏡SU7000
日立最新熱場掃描電鏡SU7000 更多詳細日立新型FIB系統(tǒng)MI4050
日立新型FIB系統(tǒng)MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復、納米圖像制備和納米沉積等。 更多詳細日立新型雙束系統(tǒng)NX2000
日立新型雙束系統(tǒng)NX2000新的低損傷加工技術可以很好的滿足感光材料和電子束曝光應用的需求;而新開發(fā)的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導航功能則進一步提高了分析效果。 更多詳細