日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術(shù),使其低電壓性能大大提升,同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進一步提升。 更多詳細日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900采用超大的樣品倉和多接口設(shè)計,適合超大樣品的觀察(直徑300mm)以及多種分析功能的拓展。同 更多詳細日立新型FIB系統(tǒng)MI4050
日立新型FIB系統(tǒng)MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復(fù)、納米圖像制備和納米沉積等。 更多詳細日立新型雙束系統(tǒng)NX2000
日立新型雙束系統(tǒng)NX2000新的低損傷加工技術(shù)可以很好的滿足感光材料和電子束曝光應(yīng)用的需求;而新開發(fā)的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導(dǎo)航功能則進一步提高了分析效果。 更多詳細