日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術(shù),使其低電壓性能大大提升,同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進(jìn)一步提升。 更多詳細(xì)日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900采用超大的樣品倉和多接口設(shè)計,適合超大樣品的觀察(直徑300mm)以及多種分析功能的拓展。同 更多詳細(xì)日立最新熱場掃描電鏡SU7000
日立最新熱場掃描電鏡SU7000 更多詳細(xì)日立新型FIB系統(tǒng)MI4050
日立新型FIB系統(tǒng)MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復(fù)、納米圖像制備和納米沉積等。 更多詳細(xì)