h无码精品3d动漫在线观看_精品国产高清在线看国产毛片不卡_国产精品99久久_99久久亚洲

官方微信

官方微信 公眾號(hào) ayiwangapp17

掃一掃,獲得最新商機(jī)

手機(jī)版

手機(jī)版 阿儀網(wǎng)移動(dòng)端

手機(jī)訪問(wèn)更快捷

頻道

廣告
您的位置: 阿儀網(wǎng) > 產(chǎn)品展廳 >  分析儀器 >  X射線儀 >  電子探針微區(qū)分析儀 >  掃描電子顯微鏡圖像系統(tǒng)改造 電子探針

優(yōu)質(zhì)信息推廣廣告

產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購(gòu)屬于商業(yè)貿(mào)易行為

掃描電子顯微鏡圖像系統(tǒng)改造 電子探針

立即詢價(jià) 進(jìn)入廠商展臺(tái)

微信客服

企業(yè)檔案

企業(yè)類型:經(jīng)銷商

公司地址:北京市朝陽(yáng)區(qū)鼎成路9號(hào)世紀(jì)寶鼎大廈B座901室

主營(yíng)產(chǎn)品:

展開更多

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

雙探針掃描電子顯微鏡是一種將形貌表征技術(shù)(掃描電子顯微鏡)與電學(xué)測(cè)試技術(shù)(雙探針電學(xué)測(cè)量系統(tǒng))結(jié)合在一起的測(cè)試系統(tǒng)。雙探針掃描電鏡主要包括真空系統(tǒng)、電子光學(xué)系統(tǒng)、樣品臺(tái)和探針系統(tǒng)等四個(gè)組成部分,如圖1所示。其中真空系統(tǒng)用于提供樣品形貌表征和測(cè)試所需的真空環(huán)境,電子光學(xué)系統(tǒng)用于掃描電子成像,樣品臺(tái)可以提供特定的樣品取向和溫度控制,而探針系統(tǒng)可以提供樣品電學(xué)測(cè)試所需的電極并且能夠精確位移。通過(guò)以上各部分的精確配合可以實(shí)現(xiàn)低維納米結(jié)構(gòu)與微納器件特性的域物性測(cè)量。

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡(jiǎn)介

雙探針掃描電子顯微鏡是一種將形貌表征技術(shù)(掃描電子顯微鏡)與電學(xué)測(cè)試技術(shù)(雙探針電學(xué)測(cè)量系統(tǒng))結(jié)合在一起的測(cè)試系統(tǒng)。雙探針掃描電鏡主要包括真空系統(tǒng)、電子光學(xué)系統(tǒng)、樣品臺(tái)和探針系統(tǒng)等四個(gè)組成部分,如圖1所示。其中真空系統(tǒng)用于提供樣品形貌表征和測(cè)試所需的真空環(huán)境,電子光學(xué)系統(tǒng)用于掃描電子成像,樣品臺(tái)可以提供特定的樣品取向和溫度控制,而探針系統(tǒng)可以提供樣品電學(xué)測(cè)試所需的電極并且能夠精確位移。通過(guò)以上各部分的精確配合可以實(shí)現(xiàn)低維納米結(jié)構(gòu)與微納器件特性的域物性測(cè)量。

                    

1 雙探針掃描電子顯微鏡系統(tǒng)的示意圖


近年來(lái),隨著人們對(duì)低維材料光電特性研究的深入,對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的成像分辨率、測(cè)量精度、溫度變化、外場(chǎng)激發(fā)等條件要求越來(lái)越高。同時(shí),該設(shè)備由于自身限性以及部件老化問(wèn)題,存在一些應(yīng)用上的不足:

1)電子光學(xué)系統(tǒng)的物鏡直徑達(dá)100mm,而工作距離只有0-20mm,因此探針豎直方向移動(dòng)的空間十分有限,如圖4所示;2)由于擴(kuò)散泵的效率較低,而且工作壽命已達(dá)極限,因此腔體的真空度已經(jīng)不能滿足測(cè)量場(chǎng)發(fā)射等特性所需的真空條件;3)缺少研究材料光電特性的有效手段,而光電特性分析是研究材料的帶隙特征的有效手段。

技術(shù)創(chuàng)新完成后能夠解決的具體科研問(wèn)題及其意義

改造后的雙探針掃描電子顯微鏡系統(tǒng)可以解決原系統(tǒng)中高精度域測(cè)量存在的諸多問(wèn)題,具體可分為以下幾個(gè)方面:

1)解決原系統(tǒng)成像分辨率低、對(duì)導(dǎo)電能力低的材料成像質(zhì)量差的問(wèn)題。寬帶隙材料由于具有較高的擊穿電壓,電子飽和速率高等,是制備各種高功率、高頻器件的理想材料。但是寬帶隙材料的導(dǎo)電能力差,特別是對(duì)于納米尺寸的材料,在電鏡下的觀察和定位較為困難。而且此系統(tǒng)組裝年限較長(zhǎng),成像質(zhì)量有所

下降,對(duì)寬帶隙材料的觀察更為困難。通過(guò)改進(jìn)電子光學(xué)系統(tǒng)可以有效提高對(duì)寬帶隙材料的成像質(zhì)量,有助于電學(xué)測(cè)試的定位。

2)解決原系統(tǒng)中探針定位精度低、可操控性差的問(wèn)題。原系統(tǒng)物鏡直徑為100mm,而工作距離僅為0-20mm,電子光學(xué)系統(tǒng)物鏡與樣品之間空間較小,因此外加探針或者光路只能以接近水平方向靠近樣品表面,樣品的定位以及探針自由移動(dòng)均受到非常大的限制。改造后的系統(tǒng)采用較小直徑和較長(zhǎng)焦距的物鏡,樣品上方空間增大,探針和光路能夠以較小角度達(dá)到樣品表面,增加了操作的自由度。同時(shí)新的探針系統(tǒng)位移精度增加,有助于低維納米材料電學(xué)特性的測(cè)量。

3)引入新的光源后此系統(tǒng)可用于材料光電特性的測(cè)量,彌補(bǔ)了電子能帶表征手段的不足。在半導(dǎo)體光譜的研究中,利用光激發(fā)的電子行為可以很好的表征材料的電子能帶結(jié)構(gòu),因此引入激勵(lì)光源可以更加有效的表征半導(dǎo)體材料電子能帶的特征。同時(shí),對(duì)于半導(dǎo)體晶體材料,不同晶面往往具有不同的光學(xué)和電學(xué)特性。利用探針的精確定位能力,可以研究微米乃至納米尺寸半導(dǎo)體材料不同晶面的光電特性,避免了生長(zhǎng)大面積晶體的技術(shù)困難。

成果及應(yīng)用領(lǐng)域

    本項(xiàng)目通過(guò)對(duì)原系統(tǒng)的改造,提高了系統(tǒng)的成像分辨率、真空度和探針的精確定位能力,增大了探針移動(dòng)的自由度,增添了激勵(lì)光源,可以為納米尺寸低維材料的場(chǎng)發(fā)射器件、光敏器件、能源器件等的物性測(cè)量提供服務(wù)。系統(tǒng)新功能的開發(fā)將會(huì)為固態(tài)量子、超導(dǎo)、納米、表面、光學(xué)、半導(dǎo)體等多個(gè)領(lǐng)域中研究的開展起到重要的支撐與促進(jìn)作用。





關(guān)鍵詞:

公司同類產(chǎn)品

相關(guān)標(biāo)簽
您最近閱讀過(guò)的產(chǎn)品

在線咨詢

免責(zé)聲明:以上所展示的[掃描電子顯微鏡圖像系統(tǒng)改造 電子探針]由會(huì)員[北京意力博通技術(shù)發(fā)展有限公司]自行提供,[掃描電子顯微鏡圖像系統(tǒng)改造 電子探針]內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員[北京意力博通技術(shù)發(fā)展有限公司]負(fù)責(zé)。[阿儀網(wǎng)]對(duì)此不承擔(dān)任何責(zé)任

友情提醒:為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購(gòu)買相關(guān)產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)以及產(chǎn)品質(zhì)量!

返回頂部
進(jìn)入展臺(tái)
在線詢價(jià)