日本JEOL透射電子顯微鏡JEM-ARM300F GRAND ARM

JEM-ARM300F 實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

產(chǎn)品規(guī)格：

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

· JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了 高的STEM-HAADF像分辨率。

· STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了所未有的58pm

· 采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm（300kV,超高分辨率靴、使用STEM球差校正器時）。

· ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12球差校正器　※選配件

· ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12球差校正器�？梢栽谟脩衄F(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

· 強(qiáng)大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300

· 標(biāo)配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

· 兩種物鏡靴

· 為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點(diǎn)的物鏡靴。

· 豐富的選購件

· 能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

· 大范圍的加速電壓設(shè)置

· 標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍廣。

· 新開發(fā)的真空系統(tǒng)

· 新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了高的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中， 大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

· 高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺

· 整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗干擾能力提高到新高 度。