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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購屬于商業(yè)貿(mào)易行為

原子分辨率透射電子顯微鏡

  • 市場價(jià)格： 電議
  • 產(chǎn)品型號(hào)： JEM-ARM200F NEOARM
  • 更新時(shí)間： 2025/6/16 8:45:44
  • 生產(chǎn)地： 日本
  • 訪問次數(shù)： 1533次

    • 公司名稱： 深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

企業(yè)檔案

深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

第 7年 證營業(yè)執(zhí)照已上傳

企業(yè)類型：代理商

公司地址：深圳市寶安區(qū)福海街道展城社區(qū)展景路83號(hào)會(huì)展灣中港廣場6棟B座902

主營產(chǎn)品：機(jī)械設(shè)備研發(fā)，工程和技術(shù)研究和試驗(yàn)發(fā)展，半導(dǎo)體器件專用設(shè)備銷售，光學(xué)儀器銷售，電子測量儀器銷售，實(shí)驗(yàn)分析儀器銷售，電子專用材料銷售。

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產(chǎn)品簡介
JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨率透射電子顯微鏡，標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡介
 JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨率透射電子顯微鏡




NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)（e-ABF法）可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。


產(chǎn)品規(guī)格：


分辨率*1

STEM HAADF 圖像:　70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)、160 pm (30 kV)
TEM 信息分辨率:　100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV)


電子槍

標(biāo)配冷場電子槍


球差校正器

STEM: NEO ASCOR HOAC*2、TEM: CETCOR with DSS*3


校正器自動(dòng)合軸系統(tǒng)

日本電子NEO JEOL COSMO™ 自動(dòng)合軸系統(tǒng)、Ad-hock合軸（SIAM）


加速電壓

30 ～ 200 kV（ 標(biāo)配30、80、200 kV；選配60、120 kV）


無磁場模式

標(biāo)配洛倫茲模式、放大倍數(shù) ( ×50 ～ 80 k熒光屏為參考面)


樣品移動(dòng)系統(tǒng)

X,Y,Z 軸高精度機(jī)械驅(qū)動(dòng)、標(biāo)配超高精度壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)


操作類型

RDS*4 操作模式*4


*1 裝配UHR(超高分辨率)靴與STEM/TEM球差校正器
*2 HOAC(高階球差校正器)
*3 DSS(DeScan系統(tǒng))
*4 RDS(安裝室分隔式)





主要特點(diǎn)：

◇ 球差校正器ASCOR（Advanced STEM Corrector）

“NEOARM”配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差（即6重像散，目阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的大障礙。），ASCOR和Cold-FEG的完美組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。

◇ 自動(dòng)像差校正軟件JEOL COSMO™（Corrector System Module）

JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM：Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix)，校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù)，并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此，客戶在工作流程中可以簡便高效地進(jìn)行高分辨率觀察及各種元素分析。

◇ 新ABF（Annular Bright Field）檢測器系統(tǒng)

ABF檢測器作為高分辨觀察輕元素的有效手段已被廣泛使用。“NEOARM”支持能增強(qiáng)輕元素襯度的新ABF成像技術(shù)（e-ABF：enhanced ABF），實(shí)現(xiàn)了對(duì)含有輕元素樣品的原子結(jié)構(gòu)的觀察。

◇ Perfect sight檢測器

STEM系統(tǒng)標(biāo)配的Perfect sight檢測器作為混合檢測器，采用了由不同材料制成的閃爍器。該檢測器具有佳的寬電壓適應(yīng)性，不依賴于加速電壓始終都可以獲得高襯度的STEM圖像，并可用于定量STEM的分析研究工作。



◇ Viewing Camera系統(tǒng)

“NEOARM”標(biāo)配的Viewing Camera系統(tǒng)是以遠(yuǎn)程操控為提而設(shè)計(jì)的利用雙相機(jī)觀察圖像的系統(tǒng)。此系統(tǒng)允許主機(jī)房和操作間分離，因此能夠靈活地安排操作環(huán)境。電鏡主機(jī)采用的純白色和JEOL銀色在室內(nèi)協(xié)調(diào)美觀，外觀設(shè)計(jì)精煉簡潔。
關(guān)鍵詞：JEM-ARM200F  NEOARM  原子分辨率透射電子顯微鏡  原子分辨率透射電子顯微鏡  透射電子顯微鏡  

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