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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購(gòu)屬于商業(yè)貿(mào)易行為

BMCH-B 薄膜厚度測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)

  • 市場(chǎng)價(jià)格: 電議
  • 產(chǎn)品型號(hào): AOD-BMCH-B
  • 更新時(shí)間: 2025/6/13 16:21:39
  • 生產(chǎn)地: 中國(guó)大陸
  • 訪問(wèn)次數(shù): 1097次
  • 公司名稱: 北京愛(ài)歐德儀器設(shè)備有限公司

企業(yè)檔案

北京愛(ài)歐德儀器設(shè)備有限公司

9 營(yíng)業(yè)執(zhí)照已上傳

企業(yè)類型:生產(chǎn)商

公司地址:北京市昌平區(qū)回龍觀

主營(yíng)產(chǎn)品:電子天平,粘度計(jì),顯微鏡,氣體檢測(cè)儀,測(cè)厚儀,影像儀,探傷儀,硬度計(jì),酸度計(jì),電導(dǎo)率儀,濁度儀,碳?xì)涞獧z測(cè)儀,

展開(kāi)更多

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

隨著計(jì)算機(jī)、CCD技術(shù)及微刻蝕技術(shù)的發(fā)展,微型光譜儀成為了實(shí)驗(yàn)室光譜分析的重要工具。我司數(shù)字光譜儀選用全球好的 Richardson 閃耀光柵,靈敏度提升20%,雜散光降低 50%。同時(shí),采用雙閃耀技術(shù),搭載紫外敏化 CCD,一次將有效波段拓展至 200~1100nm。而這一切都被放在了全新設(shè)計(jì)的 72.5mm焦距 / 對(duì)稱 / 非交叉 C-T 光學(xué)平臺(tái)之中。可達(dá)到低0.1nm的光譜分辨率;

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡(jiǎn)介

本公司今日?qǐng)?bào)道:一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

 

光學(xué)薄膜的物理厚度是薄膜基本的參數(shù)之一,它會(huì)影響整個(gè)器件的終性能,因此快速而精地測(cè)量薄膜厚度具有重要的意義。

隨著計(jì)算機(jī)、CCD技術(shù)及微刻蝕技術(shù)的發(fā)展,微型光譜儀成為了實(shí)驗(yàn)室光譜分析的重要工具。我司數(shù)字光譜儀選用全球好的 Richardson 閃耀光柵,靈敏度提升20%,雜散光降低 50%。同時(shí),采用雙閃耀技術(shù),搭載紫外敏化 CCD,一次將有效波段拓展至 200~1100nm。而這一切都被放在了全新設(shè)計(jì)的 72.5mm焦距 / 對(duì)稱 / 非交叉 C-T 光學(xué)平臺(tái)之中?蛇_(dá)到低0.1nm的光譜分辨率;具有波長(zhǎng)探測(cè)范圍較寬,高穩(wěn)定性,可編程控制,設(shè)計(jì)緊湊,便于攜帶和測(cè)量等優(yōu)勢(shì),在光電檢測(cè)設(shè)備、環(huán)境檢測(cè)系統(tǒng)、色彩偵測(cè)管理、醫(yī)學(xué)檢測(cè)和光譜分析方面都有廣泛的應(yīng)用。

基于白光干涉的原理,利用我司微型數(shù)字光譜儀通過(guò)數(shù)學(xué)函數(shù)被可以比較精的計(jì)算出薄膜厚度。

 

二、知識(shí)點(diǎn)

白光干涉、微型光譜儀、Y型光纖、透射光譜、反射光譜、光譜分辨率

 

三、涉及課程

光學(xué)、光電子技術(shù)、光電檢測(cè)、光譜分析、光譜應(yīng)用技術(shù)

 

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

1、了解白光干涉原理

2、動(dòng)手搭建薄膜測(cè)厚系統(tǒng)

3、測(cè)量不同樣品膜厚一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

 

光學(xué)薄膜的物理厚度是薄膜基本的參數(shù)之一,它會(huì)影響整個(gè)器件的終性能,因此快速而精地測(cè)量薄膜厚度具有重要的意義。

隨著計(jì)算機(jī)、CCD技術(shù)及微刻蝕技術(shù)的發(fā)展,微型光譜儀成為了實(shí)驗(yàn)室光譜分析的重要工具。我司數(shù)字光譜儀選用全球好的 Richardson 閃耀光柵,靈敏度提升20%,雜散光降低 50%。同時(shí),采用雙閃耀技術(shù),搭載紫外敏化 CCD,一次將有效波段拓展至 200~1100nm。而這一切都被放在了全新設(shè)計(jì)的 72.5mm焦距 / 對(duì)稱 / 非交叉 C-T 光學(xué)平臺(tái)之中?蛇_(dá)到低0.1nm的光譜分辨率;具有波長(zhǎng)探測(cè)范圍較寬,高穩(wěn)定性,可編程控制,設(shè)計(jì)緊湊,便于攜帶和測(cè)量等優(yōu)勢(shì),在光電檢測(cè)設(shè)備、環(huán)境檢測(cè)系統(tǒng)、色彩偵測(cè)管理、醫(yī)學(xué)檢測(cè)和光譜分析方面都有廣泛的應(yīng)用。

基于白光干涉的原理,利用我司微型數(shù)字光譜儀通過(guò)數(shù)學(xué)函數(shù)被可以比較精的計(jì)算出薄膜厚度。

 

二、知識(shí)點(diǎn)

白光干涉、微型光譜儀、Y型光纖、透射光譜、反射光譜、光譜分辨率

 

三、涉及課程

光學(xué)、光電子技術(shù)、光電檢測(cè)、光譜分析、光譜應(yīng)用技術(shù)

 

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

1、了解白光干涉原理

2、動(dòng)手搭建薄膜測(cè)厚系統(tǒng)

3、測(cè)量不同樣品膜厚一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

 

光學(xué)薄膜的物理厚度是薄膜基本的參數(shù)之一,它會(huì)影響整個(gè)器件的終性能,因此快速而精地測(cè)量薄膜厚度具有重要的意義。

隨著計(jì)算機(jī)、CCD技術(shù)及微刻蝕技術(shù)的發(fā)展,微型光譜儀成為了實(shí)驗(yàn)室光譜分析的重要工具。我司數(shù)字光譜儀選用全球好的 Richardson 閃耀光柵,靈敏度提升20%,雜散光降低 50%。同時(shí),采用雙閃耀技術(shù),搭載紫外敏化 CCD,一次將有效波段拓展至 200~1100nm。而這一切都被放在了全新設(shè)計(jì)的 72.5mm焦距 / 對(duì)稱 / 非交叉 C-T 光學(xué)平臺(tái)之中?蛇_(dá)到低0.1nm的光譜分辨率;具有波長(zhǎng)探測(cè)范圍較寬,高穩(wěn)定性,可編程控制,設(shè)計(jì)緊湊,便于攜帶和測(cè)量等優(yōu)勢(shì),在光電檢測(cè)設(shè)備、環(huán)境檢測(cè)系統(tǒng)、色彩偵測(cè)管理、醫(yī)學(xué)檢測(cè)和光譜分析方面都有廣泛的應(yīng)用。

基于白光干涉的原理,利用我司微型數(shù)字光譜儀通過(guò)數(shù)學(xué)函數(shù)被可以比較精的計(jì)算出薄膜厚度。

 

二、知識(shí)點(diǎn)

白光干涉、微型光譜儀、Y型光纖、透射光譜、反射光譜、光譜分辨率

 

三、涉及課程

光學(xué)、光電子技術(shù)、光電檢測(cè)、光譜分析、光譜應(yīng)用技術(shù)

 

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

1、了解白光干涉原理

2、動(dòng)手搭建薄膜測(cè)厚系統(tǒng)

3、測(cè)量不同樣品膜厚


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