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M-3 電阻測試儀 便攜式電阻儀 四探針電阻儀 表面電阻儀 導(dǎo)電性能測試儀

企業(yè)檔案

深圳市美鑫儀器儀表電子有限公司

12 營業(yè)執(zhí)照已上傳

企業(yè)類型:辦事處

公司地址:深圳市龍華區(qū)共和新村206棟102

主營產(chǎn)品:儀器、儀表、電子工具、五金配件。主營:泄漏測試、流量測試、音速噴嘴應(yīng)用、產(chǎn)品氣密性性能測試,標(biāo)準(zhǔn)式制冷恒溫槽等。

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產(chǎn)品簡介

M-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡介

 M-3 電阻測試儀    便攜式電阻儀  四探針電阻儀  方塊電阻測試儀  表面電阻儀 導(dǎo)電性能測試儀

1、產(chǎn)品相冊
   
     M-
3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

 2、性能特點(diǎn) :

  成套組成:由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
    探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配專用探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

   3、適用范圍
 

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
4.參數(shù)規(guī)格

1. 測量范圍、分辨率
    電    阻:   0.010 ~ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ~ 10 Ω
    電 阻 率:   0.010~ 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 ~ 10 Ω-cm
    方塊電阻:   0.050~ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:
    直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。
    SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
    長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
    測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級
量程(Ω-cm/□)
2.000
20.00
200.0
2.000k
20.00k
電阻測試范圍
0.010~2.200
2.000~22.00
20.00~220.0
0.200~2.200k
2.000~50.00k
電阻率/方阻
0.010/0.050~2.200
2.000~22.00
20.00~220.0
0.200~2.200k
2.000~20.00k
基本誤差
±1%FSB±2LSB
±2%FSB±2LSB
4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈   重:≤0.3kg

關(guān)鍵詞:鍍金銅合金探針探頭  電阻率  四探針探頭  表面電阻儀  導(dǎo)電性能測試儀  

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