CMI900 X射線熒光測厚儀
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000 更多詳細CMI830電解測厚儀,庫倫測厚儀,電鍍層測厚儀,牛津測厚儀
CMI830電解測厚儀主要用于電鍍層厚度及多鎳鍍層,電位差測量。 應(yīng)用領(lǐng)域:汽車摩托車、自行車、航天航海、電子電器、線路板、五金鎖具、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、標(biāo)準件、釹-鐵-硼、技術(shù)監(jiān)督部門及科研機構(gòu)。 更多詳細牛津臺式X射線熒光分析儀( 可無損測量鍍層厚度和進行材料分析)
Lab-X3500 利用X射線熒光分析可提高您的生產(chǎn)率,既節(jié)省時間又降低成本 更多詳細牛津多樣品分析的臺式X射線熒光光譜儀
X-Supreme8000 是一款設(shè)計緊湊靈活、功能強大的能量色散型 X 射線熒光(EDXRF)光譜儀,滿足各個行業(yè)中對質(zhì)量保證和過程控制的要求。 更多詳細