CMI900 X射線熒光測(cè)厚儀
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。基于Windows2000 更多詳細(xì)CMI830電解測(cè)厚儀,庫(kù)倫測(cè)厚儀,電鍍層測(cè)厚儀,牛津測(cè)厚儀
CMI830電解測(cè)厚儀主要用于電鍍層厚度及多鎳鍍層,電位差測(cè)量。 應(yīng)用領(lǐng)域:汽車摩托車、自行車、航天航海、電子電器、線路板、五金鎖具、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、標(biāo)準(zhǔn)件、釹-鐵-硼、技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。 更多詳細(xì)牛津臺(tái)式X射線熒光分析儀( 可無(wú)損測(cè)量鍍層厚度和進(jìn)行材料分析)
Lab-X3500 利用X射線熒光分析可提高您的生產(chǎn)率,既節(jié)省時(shí)間又降低成本 更多詳細(xì)牛津多樣品分析的臺(tái)式X射線熒光光譜儀
X-Supreme8000 是一款設(shè)計(jì)緊湊靈活、功能強(qiáng)大的能量色散型 X 射線熒光(EDXRF)光譜儀,滿足各個(gè)行業(yè)中對(duì)質(zhì)量保證和過(guò)程控制的要求。 更多詳細(xì)