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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購屬于商業(yè)貿(mào)易行為

石墨比表面測(cè)試儀

  • 市場(chǎng)價(jià)格: 電議
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 更新時(shí)間: 2025/6/13 14:24:47
  • 生產(chǎn)地: 中國大陸
  • 訪問次數(shù): 822次
  • 公司名稱: 貝士德儀器科技(北京)有限公司

企業(yè)檔案

貝士德儀器科技(北京)有限公司

15 營業(yè)執(zhí)照已上傳

企業(yè)類型:生產(chǎn)商

公司地址:北京市海淀區(qū)上地十街輝煌國際1棟607室

主營產(chǎn)品:比表面積儀,孔隙度測(cè)定儀,比表面積測(cè)試儀,孔徑分析儀,比表面積測(cè)定儀,比表面積分析

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產(chǎn)品簡介

石墨比表面測(cè)試儀3H-2000BET-A是目前國內(nèi)同類產(chǎn)品中唯一完能全自動(dòng)化,智能化的BET法比表面測(cè)量儀器,連續(xù)多年國內(nèi)市場(chǎng)銷量第一,北京大學(xué)、上海大學(xué)、哈工大、中科院等眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)成功案例,秉承高科技高含量行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn),依據(jù)國標(biāo)BET比表面測(cè)試?yán)碚摵驮?采用國內(nèi)外先進(jìn)比表面測(cè)試方法,符合國標(biāo)GB19587測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),更擁有國內(nèi)外同行都不具備的10項(xiàng)硬件技術(shù)專利。大大提高產(chǎn)品穩(wěn)定性和使用壽命,測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確,操作簡單快捷,大大降低測(cè)試人員工作量.3H-2000PS系列全自動(dòng)智能比表面積測(cè)定微孔結(jié)構(gòu)分布總孔體積孔隙度分析儀是貝士德儀器科技自主研發(fā)的比表面積及孔徑檢測(cè)儀器,采用靜

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡介

.石墨比表面測(cè)試儀廠家簡介

石墨比表面測(cè)試儀3H-2000BET-A是目前國內(nèi)同類產(chǎn)品中唯一完全自動(dòng)化,智能化的BET法比表面測(cè)量儀器,連續(xù)多年國內(nèi)市場(chǎng)銷量第一,北京大學(xué)、上海大學(xué)、哈工大、中科院等眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)成功案例,秉承高科技高含量行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn),依據(jù)國標(biāo)BET比表面測(cè)試?yán)碚摵驮?font face="Times New Roman">,采用國內(nèi)外先進(jìn)比表面測(cè)試方法,符合國標(biāo)GB19587測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),更擁有國內(nèi)外同行都不具備的10項(xiàng)硬件技術(shù)專利。大大提高產(chǎn)品穩(wěn)定性和使用壽命,測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確,操作簡單快捷,大大降低測(cè)試人員工作量.3H-2000PS系列全自動(dòng)智能比表面積測(cè)定微孔結(jié)構(gòu)分布總孔體積孔隙度分析儀是貝士德儀器科技自主研發(fā)的比表面積及孔徑檢測(cè)儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理.相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,獨(dú)立的Po測(cè)試,國內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理模式等多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平,部分功能超越國外產(chǎn)品

貝士德儀器科技北京中關(guān)村科技園認(rèn)定的高新科技企業(yè),是創(chuàng)新基金支持企業(yè),測(cè)試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書,同時(shí)貝士德儀器科技也是國內(nèi)同行中最早注冊(cè)資本超百萬的企業(yè),是國內(nèi)同行中極少數(shù)通過ISO9001認(rèn)證的企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!

貝士德儀器科技---石墨比表面測(cè)試儀,比表面積儀,比表面積測(cè)試儀,比表面積分析儀,比表面積測(cè)定儀國產(chǎn)實(shí)現(xiàn)真正完全自動(dòng)化智能化測(cè)試技術(shù)的開拓者和引領(lǐng)者,石墨比表面測(cè)試儀多項(xiàng)專利技術(shù)已成為業(yè)內(nèi)儀器測(cè)試不可或缺的條件。

.  主營產(chǎn)品介紹

全自動(dòng)智能比表面積儀及中孔微孔分布測(cè)試儀,石墨比表面測(cè)試儀,BET法比表面儀,比表面積測(cè)試儀,氮吸附比表面積測(cè)定儀,比表面檢測(cè)儀,比表面測(cè)量儀,比表面積檢測(cè)儀,介孔微孔分布測(cè)定儀,比表面積測(cè)量儀,BET比表面積分析儀,比表面測(cè)定儀,BET比表面分析儀,孔容積測(cè)定儀,孔徑分析儀,孔徑檢測(cè)儀,孔徑測(cè)量儀,孔徑分布測(cè)定儀,孔隙度分析儀,介孔微孔分布分析儀,孔容積分析儀,孔徑分布檢測(cè)儀,孔徑分布測(cè)量儀,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率檢測(cè)儀,孔隙率測(cè)量儀,孔容測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)分析儀,孔徑測(cè)定儀,孔隙度檢測(cè)儀,孔隙度測(cè)量儀,平均孔徑測(cè)試儀,介孔微孔分布測(cè)量儀,孔結(jié)構(gòu)檢測(cè)儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)量儀,總孔體積分析儀,孔容積測(cè)試儀,孔體積分析儀,孔體積檢測(cè)儀,孔體積測(cè)量儀,平均孔徑測(cè)定儀,孔隙率分析儀,孔徑測(cè)試儀,孔徑分布測(cè)試儀,孔容檢測(cè)儀,孔容測(cè)量儀,總孔體積測(cè)定儀,介孔微孔分布檢測(cè)儀,孔體積測(cè)試儀,平均孔徑分析儀,總孔體積檢測(cè)儀,總孔體積測(cè)量儀,孔隙度測(cè)定儀,孔徑分布分析儀,平均孔徑檢測(cè)儀,平均孔徑測(cè)量儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)定儀,總孔體積測(cè)試儀,孔隙率測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)試儀,孔容分析儀,孔體積測(cè)定儀,孔隙度測(cè)試儀,孔容測(cè)定儀等

應(yīng)用領(lǐng)域:吸附劑如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等);陶瓷原材料如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料補(bǔ)強(qiáng)劑如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等);電池材料如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導(dǎo)電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質(zhì),負(fù)極活性物質(zhì),鋅粉等);金屬氧化物如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等);磁性粉末材料如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等);納米金屬材料如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等);環(huán)保行業(yè)如顏填料,柱填料,無機(jī)顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等);無機(jī)粉體材料如氧化鈦,鈦粉,二氧化鈦等);納米材料如納米粉體材料,納米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,儲(chǔ)能材料,催化劑硅藻土),凈化劑,助濾劑,發(fā)光稀土粉末材料,粉體材料,粉末材料,超細(xì)纖維,多孔織物,復(fù)合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測(cè)分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控



 .   石墨比表面測(cè)試儀性能參數(shù)

Ø 測(cè)試方法:  多功能性,可進(jìn)行BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法(計(jì)算外比表面積)、粒度估算、樣品BET吸附常數(shù)C等測(cè)試方法;

Ø 測(cè)試精度:  測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。測(cè)試相對(duì)誤差小于±1.5%;

Ø 測(cè)試范圍:  測(cè)試范圍廣,可測(cè)定比表面積在0.01m2/g以上的范圍內(nèi)的物質(zhì),滿足所有粉體物質(zhì)及多孔物質(zhì)比表面積的測(cè)試;樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。

Ø 測(cè)試時(shí)間:  BET多點(diǎn)法同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品每分壓點(diǎn)測(cè)定時(shí)間約5分鐘,平均每個(gè)樣品總用時(shí)約30min;固體標(biāo)樣參比法同時(shí)可測(cè)試3個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約6分鐘,以上測(cè)試時(shí)間不包含樣品預(yù)處理時(shí)間。由于具有風(fēng)熱助脫專利技術(shù),為國內(nèi)測(cè)試速度最快比表面儀;

Ø 測(cè)試氣路:  采用低溫氮吸附動(dòng)態(tài)色譜法,國內(nèi)外獨(dú)特并聯(lián)氣路,消除了環(huán)境溫度、濕度、大氣壓力等外界影響,無需抽真空,試驗(yàn)室條件要求相對(duì)寬松;

Ø 數(shù)據(jù)處理:  軟件為自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),高采樣頻率100Hz,全自動(dòng)控制;具有功能完善的比表面數(shù)據(jù)處理能力;USB通訊接口;

Ø 儀器硬件:  硬件采用穩(wěn)定而耐用的部件,關(guān)鍵部件全部采用進(jìn)口配件,經(jīng)過嚴(yán)格檢測(cè),適合頻繁測(cè)試; 標(biāo)配40L氦氮混合氣體,氣體使用時(shí)間更長,平均使用2年以上;

Ø 儀器售后:  公司負(fù)責(zé)現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試、操作培訓(xùn),實(shí)行客戶定期回訪制度,7×24小時(shí)電話支持,72小時(shí)現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)。

石墨比表面測(cè)試儀特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)

Ø 吹掃處理:  具有國內(nèi)唯一一體式脫氣裝置(非分體式),實(shí)現(xiàn)了試樣原位處理,與空氣零接觸,保證了樣品預(yù)處理的高效性,有效提高測(cè)試精度;

專利名稱:具有原位吹掃功能的比表面儀  專利號(hào):ZL200920110453.4) 

Ø 色譜檢測(cè):  具有國內(nèi)唯一色譜法氮?dú)夥謮簷z測(cè)系統(tǒng),相對(duì)流量法精度提高10倍,使氮?dú)鉂舛瓤刂凭群蜋z測(cè)精度均達(dá)到萬分之一,高穩(wěn)定性;

(專利名稱:氮?dú)鉂舛葯z測(cè)器 專利號(hào):ZL200920110455.3)

Ø 風(fēng)熱助脫:  具有國內(nèi)唯一程控風(fēng)熱助脫裝置,保證得到尖銳快速的脫附峰,減少背景誤差提高測(cè)手機(jī)哦效率和精度

專利名稱:具有吹風(fēng)加熱功能的比表面儀  專利號(hào):ZL200920110451.5

Ø 零漂抑制:  具有國內(nèi)唯一檢測(cè)器恒溫系統(tǒng),使檢測(cè)器10min的漂移小于0.1mV,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與穩(wěn)定性; 

(專利名稱:氣體恒溫裝置及比表面儀  專利號(hào):ZL200920110454.9)

Ø 凈化冷阱:  具有國內(nèi)唯一氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個(gè)數(shù)量級(jí)以上;

(專利名稱:氣體凈化冷阱及比表面儀  專利號(hào):ZL200920110450.0)

Ø 樣 品 管:  貝士德樣品管,保證測(cè)試精度的同時(shí)使得樣品管裝樣方便并不限于粉末樣品測(cè)試;

(專利名稱:比表面儀U型樣品管  專利號(hào)ZL200920110452.X)

Ø 吹掃定時(shí):  具有國內(nèi)唯一吹掃定時(shí)功能,定時(shí)精度1秒。倒計(jì)時(shí)完成后自動(dòng)切斷加熱電源,并聲音提示;

Ø 氮?dú)夥謮海?nbsp; 程控伺服分壓調(diào)節(jié)系統(tǒng),氮?dú)夥謮嚎刂迫套詣?dòng)運(yùn)行;

Ø 氣源開關(guān):  國內(nèi)唯一氣源開關(guān)指示與保護(hù)裝置,斷氣自動(dòng)斷電,永久避免斷氣帶電誤操作對(duì)檢測(cè)器的損害;

Ø 控制系統(tǒng):  吸附脫附過程全自動(dòng)程序控制,各個(gè)重要環(huán)節(jié)聲音提示;儀器運(yùn)行中操作人員進(jìn)行其他工作或離開也不用擔(dān)心耽誤實(shí)驗(yàn);

Ø 溫度監(jiān)測(cè):  液氮溫度監(jiān)測(cè),消除普通工業(yè)液氮溫度差異影響,使用條件寬泛;室溫監(jiān)測(cè),消除環(huán)境溫度影響。

Ø 粒度估算:  具有國內(nèi)唯一粒度模型估算數(shù)據(jù)處理功能,并給出粒度估算報(bào)告;此功能能夠根據(jù)比表面積給出各個(gè)模型下的平均粒度,對(duì)研究者判斷顆粒形態(tài)起到指導(dǎo)作用;




"質(zhì)量服務(wù)肩并肩,成功路上走得遠(yuǎn)更多的比表面及孔徑孔隙度測(cè)試分析技術(shù)及產(chǎn)品信息,敬請(qǐng)參閱我們的網(wǎng)站


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