掃描電鏡SEM
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域 更多詳細(xì)透射電鏡TEM
配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡 更多詳細(xì)聚焦離子束系統(tǒng)FIB
FIB是將離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速,聚焦后作用于樣品表面,應(yīng)用于:產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像,此功能與SEM相似,用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子進(jìn)行剝離,以完成微、納米表面形貌加工,通常是以物理濺射 更多詳細(xì)光學(xué)輪廓儀
1.測(cè)量模式:PSl, USl, VSl, 選配的 Film
2.大掃描量程:≤10 mm 更多詳細(xì)