鍍金層厚度用膜厚儀測試揭秘:業(yè)技術(shù)解讀與實(shí)踐指南
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,鍍金層厚度的控制是至關(guān)重要的。然而,要測量鍍金層的厚度并不是一件容易的事情。為了解決這個問題,膜厚儀誕生了。本文將從膜厚儀的原理、使用方法、優(yōu)勢等方面,詳細(xì)介紹如何利用膜厚儀來測試鍍金層厚度,并給出實(shí)踐指南,幫助讀者更好地應(yīng)用于實(shí)際生產(chǎn)中。

鍍層樣品測試注意事項
先要確認(rèn)基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序,天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
通過對鍍層基材的測定,確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質(zhì),比如PCB印刷版基材中環(huán)氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的,并且同標(biāo)準(zhǔn)片底材元素含量不一致的,則需要進(jìn)行基材修正,選用樣品所相似的底材進(jìn)行曲線標(biāo)定 。

標(biāo)準(zhǔn)配置
X射線電鍍層測厚儀開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實(shí)現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

先,我們來了解膜厚儀的工作原理。膜厚儀通過使用非接觸式技術(shù),利用電磁波對被測物體進(jìn)行測量,從而得出鍍金層的厚度數(shù)據(jù)。相比傳統(tǒng)的測量方法,膜厚儀具有精度高、速度快、操作簡便等優(yōu)勢,大地提高了測量效率。
接下來,我們講解膜厚儀的使用方法。先,使用者需要將膜厚儀放置在被測物體的表面,確保儀器與被測物體之間沒有空氣隙縫。然后,按下測試按鈕,膜厚儀會自動開始測量。測量完成后,儀器會自動顯示出鍍金層的厚度數(shù)值。如果需要連續(xù)測量多個點(diǎn)位,只需要將膜厚儀移動到下一個點(diǎn)位繼續(xù)測量即可。需要注意的是,使用膜厚儀時要避免與其他金屬物質(zhì)接觸,以免影響測量結(jié)果。
此外,我們還要了解膜厚儀的優(yōu)勢。相比傳統(tǒng)的測量方法,膜厚儀具有諸多優(yōu)點(diǎn)。先,它可以測量不同材料的鍍金層厚度,應(yīng)用范圍廣泛。其次,膜厚儀具有高精度的測量能力,能夠滿足嚴(yán)格的質(zhì)量要求。另外,膜厚儀操作簡單,不需要復(fù)雜的調(diào)試和維護(hù),節(jié)省了時間和成本。重要的是,膜厚儀可以實(shí)時顯示測量結(jié)果,方便用戶及時調(diào)整工藝參數(shù),提高生產(chǎn)效率。
通過本文的介紹,相信讀者對于鍍金層厚度用膜厚儀測試有了更深入的了解。膜厚儀作為一種的測試儀器,為工業(yè)生產(chǎn)提供了更加和的測量手段。在實(shí)際應(yīng)用中,使用者需要注意儀器的操作方法,并根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行合理的測量方案,以獲得佳的測試效果。希望本文的實(shí)踐指南能夠幫助讀者在鍍金層厚度測試方面取得更好的成果。