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Quantera II PHI Quantera II X射線光電子能譜儀

  • 市場價格: 電議
  • 產(chǎn)品型號: Quantera II
  • 更新時間: 2025/6/5 18:07:10
  • 生產(chǎn)地: 中國大陸
  • 訪問次數(shù): 47次
  • 公司名稱: 上海禹重實業(yè)有限公司

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企業(yè)檔案

企業(yè)類型:經(jīng)銷商

公司地址:上海市閔行區(qū)春申路2328號6棟108室

主營產(chǎn)品:分析儀器: 成分分析| 表面分析| 硬度和力學| 樣品前處理耗材設(shè)備: 標準樣品| 儀器配套| 儀器耗材| 測試服務(wù)行業(yè)應用: 功能材料| 汽車零部件| 質(zhì)檢質(zhì)檢| 金屬制造| 實驗室|

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產(chǎn)品簡介

PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研發(fā)的XPS分析儀器,其革命性超卓技術(shù)包括

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公司簡介

PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研發(fā)的XPS分析儀器,其革命性超卓技術(shù)包括有:一個*微集中掃描的X射線來源,的雙光束的電荷中和技術(shù),在極低電壓下仍可保持高性能的離子束源以進行XPS的深度分析,一個五軸精密的樣品臺和負責全自動樣品傳送的機械手臂,與及一個*自動化且可支持互聯(lián)網(wǎng)遠程控制的儀器操作平臺。
PHI Quantera II X射線光電子能譜儀增加了這些革命性的技術(shù)性能和生產(chǎn)力,再一次提供了zui高性能的XPS系統(tǒng),以滿足您當前和未來的XPS需要。
優(yōu)點:
容易使用:無論您是在分析一個薄膜樣品、有機聚合物、一個大的塑料鏡片,不銹鋼刀片又或是焊錫球;所有的儀器設(shè)置和設(shè)定都是*相同的。用者只需用鼠標點在一個光學圖像單擊選擇一個或多個分析地區(qū),加上雙光束中和系統(tǒng)和自動Z-軸高度調(diào)整功能,就可以透過儀器軟件的自動隊列執(zhí)行所有分析。整個操作流程不需要任何的設(shè)定調(diào)整,不用因不一樣樣品成份而有任何顧慮,甚至也不需要有操作員整天待在儀器旁邊;一切的操作都可以自動的完成。
薄膜分析:Quantera II 不僅提供了無機薄膜樣本良好的深度剖面分析性能,而且也可以在利用C60離子槍對有機薄膜得出非常優(yōu)越的深度分析結(jié)果。
掃描 :PHI使用了*的聚焦掃描X射線源,使XPS微區(qū)分析變得更高效。如圖4所示,X射線源是經(jīng)由聚焦電子光柵掃描并撞擊在鋁陽極上所產(chǎn)生的,而此產(chǎn)生的聚焦鋁X射線會再透過橢球形狀的單色器反射在樣品表面上。當電子束掃描在鋁陽極上時,所產(chǎn)生的X射線束在樣品上也會作出同步的掃描。X射線束的直徑大小可調(diào)范圍為7.5微米以下到400微米以上。
微區(qū)光譜:在光學顯微鏡,在這透明的聚合物薄膜表面上是沒有發(fā)現(xiàn)任何污染物的。但是如以下圖5中所示,使用二次電子影像時就立即顯示了在聚合物表面上的化污染物的存在。在短短幾分鐘內(nèi),Quantera II儀器就可以利用一個直徑為20微米的X射線束得到確定的氟碳污染物
。


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