Ndigo6G-12是一種用于采集短脈沖的混合ADC/tdc高速脈沖采集卡。高速脈沖采集卡結(jié)合了一個四通道瞬態(tài)記錄器和一個四通道時間間隔分析儀。Ndigo6G-12特別適合于飛行時間應(yīng)用(TOF系統(tǒng))，如激光雷達(dá)、飛行時間質(zhì)譜、時間分辨單光子計數(shù)(tcspc)、多光譜飛行時間成像、熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)等。結(jié)合脈沖形狀信息(如面積或幅度)，脈沖到達(dá)時間的測量精度可低至5ps。

6Gs/s高速脈沖采集卡——飛行時間測量

 

Ndigo6G-12是一種用于采集短脈沖的混合ADC/tdc高速脈沖采集卡。高速脈沖采集卡結(jié)合了一個四通道瞬態(tài)記錄器和一個四通道時間間隔分析儀。Ndigo6G-12特別適合于飛行時間應(yīng)用(TOF系統(tǒng))，如激光雷達(dá)、飛行時間質(zhì)譜、時間分辨單光子計數(shù)(tcspc)、多光譜飛行時間成像、熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)等。結(jié)合脈沖形狀信息(如面積或幅度)，脈沖到達(dá)時間的測量精度可低至5ps。

4個通道，1600 Msps, 12位分辨率，可以獨立記錄或與兩個或一個通道(s)組合，具有高達(dá)6400 Msps的更高動態(tài)范圍。此外，Ndigo6G-12還包括4個分辨率為13 ps的TDC通道。

 

高速脈沖采集卡產(chǎn)品特色：

消零：檢測超過一定閾值的脈沖，只獲取相關(guān)數(shù)據(jù)，以大量減少需要復(fù)制和分析的數(shù)據(jù)量

 

ISPlay: inline;">高速脈沖采集卡可配置直流偏置：當(dāng)獲取單極脈沖時，將基線移到ADC范圍的邊緣，使動態(tài)范圍翻倍。

 

 

靈活的效用函數(shù)：大量有用的細(xì)節(jié)可以幫助您使用蕞少的外部組件創(chuàng)建高度集成的設(shè)置。集成TiGer計時模式發(fā)生器可以提供數(shù)字脈沖模式來控制您的實驗或內(nèi)部觸發(fā)器。使用門和否決函數(shù)與我們的門控邏輯。這也適用于跨通道或從一個靈活的觸發(fā)矩陣的額外數(shù)字輸入。

 

 

 

高速脈沖采集卡指標(biāo)參數(shù)：

ADC通道	4
TDC通道	4
門控通道	4
接口	6x Lemo 00
單通道采樣率	6.4  Gsps
多通道采樣率	1.6Gsps
分辨率	12   bits
蕞大帶寬	TBD
TDC bin寬	12  ps
TDC 雙脈沖分辨率	typically 4ns
多次擊發(fā)	unlimited
組間死時間
TDC讀出速率	30   MHits/s
ADC讀出速率	6000 MBytes/s
測量范圍	106   d
常規(guī) start/stop	yes / yes
同步板卡總數(shù)	8
讀出總線	PCIe3 x8
時間基準(zhǔn)	50   ppb on board or external 10 MHz clock
板載數(shù)據(jù)存儲校準(zhǔn)	●
觸發(fā)窗口可調(diào)節(jié)	●
允許事件重疊	●
易用的Windows C API	●
系統(tǒng)內(nèi)固件更新	●
Linux支持	●

 

高速脈沖采集卡應(yīng)用領(lǐng)域：

FLIM熒光壽命成像顯微

激發(fā)熒光團的衰變時間通常在幾納秒的范圍內(nèi)。在熒光壽命成像中，樣品的指數(shù)衰減需要皮秒范圍內(nèi)的時間分辨率來確定。

 

LIDAR激光雷達(dá)

激光雷達(dá)系統(tǒng)發(fā)射紫外線、可見光或近紅外光來成像物體，并測量反射光子的飛行時間(TOF)。這種系統(tǒng)用于許多不同領(lǐng)域的目標(biāo)檢測和跟蹤，從考古學(xué)到農(nóng)業(yè)，自動駕駛汽車和機器人等。

 

OTDR光時域反射

在光學(xué)時域反射測量中，通過測量從光纖的同一端有多少光通過瑞利后向散射返回或從沿光纖的各個位置反射來確定反射時間。

 

TOF質(zhì)譜

在許多TOFMS單元中，使用TDC來精確測量單個離子的到達(dá)。從到達(dá)時間推算出離子的飛行時間，由此可以確定被探測粒子的質(zhì)荷比。

 

TDR時域反射

TDR (Time Domain refltometry)是一種測量沿導(dǎo)體反射的電子測量方法。它屬于距離故障(DTF)測量的范疇。TDR測量提供了有關(guān)傳輸系統(tǒng)寬帶行為的有意義的信息。

 

FLCS熒光壽命相關(guān)光譜

熒光相關(guān)光譜是一種高靈敏度的光學(xué)測量方法。在熒光發(fā)射強度隨時間的波動被記錄，這是由通過檢測體積的單個熒光團引起的。

 

 

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