日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件,高分辨成像所設計。 更多詳細日立冷場發(fā)射掃描電鏡
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。近年來,以Materials In 更多詳細日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。 更多詳細日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SU8240)
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列(HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series,SU8220,SU8230,SU8240)采用日立高新技術(shù)公司全新開發(fā)的冷場電子槍,實現(xiàn) 更多詳細