XPS 作為一種重要的表面分析方法,廣泛應(yīng)用于固體材料表面的元素組分和化學(xué)態(tài)的研究,例如電池材料,催化劑,集成電路,半導(dǎo)體,金屬,聚合物,陶瓷和玻璃等,可滿足從研發(fā)到失效分析的廣泛分析需求。VersaPrabe4 采用了全新設(shè)計的高靈敏分析器,靈敏度是上一代的2倍,具有更低的檢測限,能夠?qū)崿F(xiàn)從微區(qū)到大面積的高靈敏度化學(xué)分析。微聚焦掃描X射線和SXI影像,通過類似SEM的SXI影響可以作為樣品導(dǎo)航,實現(xiàn)100%精準地定義微區(qū)分析位置
PHI Versaprobe 4 X射線光電子能譜儀應(yīng)用范圍:
包括表面的元素與化學(xué)態(tài)分析(氫和氦除外)。
表面物種的化學(xué)狀態(tài)的識別,包括有機和無機材料,導(dǎo)體和絕緣體。
深入薄膜中的組成元素分布概況,包括半導(dǎo)體、薄膜結(jié)構(gòu),磁介質(zhì)薄膜,光學(xué)鍍膜,裝飾涂料,和耐磨涂層。
在必須避免會對電子束技術(shù)有破壞性效果時的樣品成分分析。

1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um
空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊。
2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學(xué)態(tài)的深度分析(角分辨方式,,氬離子或
團簇離子刻蝕方式)
3. 線掃描或面掃描以得到
線或面上的元素或化學(xué)態(tài)分布。
4. 成像功能。
關(guān)鍵詞:
X射線光電子能譜儀
上海斯邁歐經(jīng)銷代理眾多進口品牌
儀器(珀金埃爾默、賽默飛、島津、安捷倫、沃特世、AB、耶拿、日立等),主營產(chǎn)品有氣相色譜、液相色譜、原子吸收光譜儀、紫外分光光度計、氣質(zhì)聯(lián)用儀、液質(zhì)聯(lián)用儀;斯邁歐團隊成員均來自一線品牌
儀器公司,具備豐富的
儀器行業(yè)從業(yè)經(jīng)歷。公司站在用戶角度,以企業(yè)“節(jié)約成本,提高質(zhì)量,科學(xué)管理”為導(dǎo)向,擔負著各行業(yè)“質(zhì)量求發(fā)展”的使命,更好地為科研單位、企業(yè)生產(chǎn)、院校教學(xué)、第三方檢測等域而服務(wù)。斯邁歐公司自成立以來,始終秉承“誠信為根,服務(wù)為本”的經(jīng)營理念,以敬業(yè)、務(wù)實、拼搏的工作熱忱,本著“精益求精、全心全力”的服務(wù)原則,為我們的客戶提供精準、精密、科技、科學(xué)的計量檢測
儀器。