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詳細(xì)內(nèi)容
產(chǎn)品描述
InSEM HT高溫測試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容。 系統(tǒng)溫度可高達(dá)800°C，因而可以模擬現(xiàn)場端溫度條件，以獲得可靠一致的測試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過優(yōu)化，可用于高溫測試應(yīng)用，并可提供多種幾何形狀。
主要功能
InForce 50驅(qū)動器，壓頭可加熱，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭
樣品可升溫至800°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng)
InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)
用于樣本定位的XYZ移動系統(tǒng)
SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步
獨(dú)特的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)
與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能
主要應(yīng)用
高溫測試
硬度和模量測量（Oliver-Pharr）
連續(xù)剛度測量
高速材料性質(zhì)分布
蠕變測量
應(yīng)變率靈敏度
工業(yè)應(yīng)用
大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
航空航天
汽車制造業(yè)
硬涂層
核能
軍事/國防
應(yīng)用
硬度和模量測量（Oliver-Pharr ）
機(jī)械表征在新材料的研究和開發(fā)中至關(guān)重要。 InSEM HT納米壓痕儀可測量各種材料的硬度，尤其是監(jiān)測熱應(yīng)力下機(jī)械性能的變化。
連續(xù)剛度測量 （CSM）
連續(xù)剛度測量用于量化動態(tài)材料特性，例如應(yīng)變率和頻率引起的影響。InSEM HT納米壓痕儀提供0.1Hz至1kHz的動態(tài)激發(fā)，采用隨時間變化進(jìn)行監(jiān)測以準(zhǔn)確確定初始表面接觸，并根據(jù)深度或頻率持續(xù)對接觸剛度進(jìn)行測量。
材料特性分部
對于包括復(fù)合材料在內(nèi)的許多材料，其機(jī)械性能可能因部位而異。InSEM HT的樣品平臺可以在X軸和Y軸上移動20mm，并在Z軸方向移動25mm，使得該系統(tǒng)適用于不同的樣品高度并可以在樣品區(qū)域上進(jìn)行測量。可選的NanoBlitz形貌和斷層 成像軟件可以快速繪制任何測得的機(jī)械屬性的彩色分布圖。
高溫測試
許多工業(yè)域的材料研究不僅注重機(jī)械應(yīng)力也關(guān)注熱應(yīng)力下的材料性能。InSEM HT為先進(jìn)技術(shù)應(yīng)用中的下一代材料測試而設(shè)計(jì)，如航空航天、汽車和軍事/國防。
蠕變測量
隨著載荷增加和溫度升高，材料會發(fā)生變形。蠕變是機(jī)械和熱應(yīng)力共同作用下隨時間變化對于應(yīng)變的測量，蠕變行為對于汽車和航空航天系統(tǒng)的有效設(shè)計(jì)至關(guān)重要。 InSEM HT可將溫度升高至800°C，同時監(jiān)測材料應(yīng)變。
應(yīng)變率靈敏度
應(yīng)變率靈敏度將應(yīng)變量化為與各種負(fù)載條件的函數(shù)關(guān)系。例如，在短時間內(nèi)對材料施加機(jī)械和/或熱應(yīng)力與緩慢向樣品施加應(yīng)力相比可能產(chǎn)生不同應(yīng)變結(jié)果。InSEM HT允許用戶自定義實(shí)驗(yàn)，在溫度可升至800°C的條件下測量應(yīng)變靈敏度與負(fù)載條件的函數(shù)關(guān)系。
關(guān)鍵詞：納米壓痕 楊氏模量 硬度
納米壓痕
NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測試進(jìn)行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)中，NanoFlip在測試（例如柱壓 更多詳細(xì)納米壓痕
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