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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購(gòu)屬于商業(yè)貿(mào)易行為

納米壓痕

  • 市場(chǎng)價(jià)格: 電議
  • 產(chǎn)品型號(hào): NanoFlip
  • 更新時(shí)間: 2024/10/18 10:31:15
  • 生產(chǎn)地: 美洲
  • 訪問次數(shù): 151次
  • 公司名稱: 深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司

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企業(yè)檔案

企業(yè)類型:代理商

公司地址:成都市成華區(qū)建設(shè)路

主營(yíng)產(chǎn)品:科研儀器儀表

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測(cè)試進(jìn)行高精確度的測(cè)量。在掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)中,NanoFlip在測(cè)試(例如柱壓縮)方面表現(xiàn)優(yōu)異,可以將SEM圖像與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip測(cè)量迅速,這對(duì)于惰性環(huán)境(例如手套箱)中測(cè)試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件,例如InForce50電磁驅(qū)動(dòng)器,可以提供定量結(jié)

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡(jiǎn)介

 

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產(chǎn)品描述

NanoFlip提供高精度XYZ位移,可定位樣品進(jìn)行測(cè)試,還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制,可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測(cè)試方法,涵蓋一系列測(cè)試協(xié)議,并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測(cè)試方法。InForce50驅(qū)動(dòng)器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像,并與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°,無需移除樣品即可實(shí)現(xiàn)從FIB到壓痕測(cè)試的無縫過渡。

 

QQ截圖20220613194222.png

主要功能

  • InForce 50驅(qū)動(dòng)器,用于電容位移測(cè)量,并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭

  • InQuest高速控制器電子設(shè)備,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)

  • 用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)

  • SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步

  • 獨(dú)特的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)

  • 與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能

 

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主要應(yīng)用

  • 硬度和模量測(cè)量(Oliver-Pharr)

  • 連續(xù)剛度測(cè)量

  • 高速材料性質(zhì)分布圖

  • ISO 14577硬度測(cè)試

  • 聚合物的納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)

  • 定量刮擦和磨損測(cè)試

 

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工業(yè)應(yīng)用

  • 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

  • 支柱和微球制造

  • MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))

  • 材料制造(結(jié)構(gòu)壓縮/拉伸/斷裂測(cè)試)

  • 電池和元件制造

 

 

應(yīng)用

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硬度和模量測(cè)量(Oliver-Pharr)

NanoFlip納米壓痕儀能夠測(cè)量從超軟凝膠到硬涂層的各種材料的硬度和模量。 對(duì)這些特性的高速評(píng)估保證了在生產(chǎn)線上進(jìn)行質(zhì)量控制。

 

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連續(xù)剛度測(cè)量 (CSM)

連續(xù)剛度測(cè)量用于量化動(dòng)態(tài)材料特性,例如應(yīng)變率和頻率引起的影響。 NanoFlip納米壓痕儀提供0.1Hz至1kHz的動(dòng)態(tài)激發(fā),采用隨時(shí)間變化進(jìn)行監(jiān)測(cè)以準(zhǔn)確確定初始表面接觸,并根據(jù)深度或頻率持續(xù)對(duì)接觸剛度進(jìn)行測(cè)量。

 

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材料特性分部

對(duì)于包括復(fù)合材料在內(nèi)的許多材料,其機(jī)械性能可能因部位而異。NanoFlip的樣品平臺(tái)可以在X軸和Y軸上移動(dòng)21mm,并在Z軸方向移動(dòng)25mm,這使得該系統(tǒng)適用于不同的樣品高度并可以在樣品區(qū)域上進(jìn)行測(cè)量?蛇x的NanoBlitz形貌和斷層成像軟件可以快速繪制任何測(cè)得的機(jī)械屬性的彩色分布圖。

 

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ISO 14577硬度測(cè)試

NanoFlip納米壓痕儀包括預(yù)先編寫的ISO 14577測(cè)試方法,可用于測(cè)量符合ISO 14577標(biāo)準(zhǔn)的材料硬度。該測(cè)試方法自動(dòng)測(cè)量并報(bào)告楊氏模量、儀器硬度、維氏硬度和標(biāo)準(zhǔn)化壓痕。

 

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納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)

聚合物是非常復(fù)雜的材料。為了獲取決定聚合物設(shè)計(jì)的有用信息,需要對(duì)相關(guān)樣品在相關(guān)的條件下進(jìn)行機(jī)械性能測(cè)量。納米壓痕測(cè)試幫助這種特定相關(guān)的測(cè)量易于進(jìn)行,因?yàn)橹恍枰苽浜苄』蚝苌倭康臉悠贰anoFlip納米壓痕系統(tǒng)還可以通過在與材料接觸時(shí)振蕩壓頭來測(cè)量聚合物的復(fù)數(shù)模量和粘彈性。

 

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定量劃痕和磨損測(cè)試

NanoFlip可以對(duì)各種材料進(jìn)行刮擦和磨損測(cè)試。涂層和薄膜會(huì)經(jīng)過化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)和引線鍵合等多道工藝,考驗(yàn)薄膜的強(qiáng)度及其與基板的粘合性。重要的是這些材料在這些工藝中抵制塑性變形,并且保持原樣而不會(huì)基板起泡。


關(guān)鍵詞:納米壓痕  楊氏模量  硬度  

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