納米壓痕
InSEM®HT(高溫)通過在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測(cè)量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)工作室,或獨(dú)立的真空工作室兼容 更多詳細(xì)納米壓痕
iNano®納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測(cè)試等多種納米機(jī)械測(cè)試。 該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而 更多詳細(xì)納米壓痕
NanoIndenter G200X納米力學(xué)測(cè)試平臺(tái),簡(jiǎn)單易用,能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測(cè)試結(jié)果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能,從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品,并針對(duì)不同應(yīng)用提供綜 更多詳細(xì)納米壓痕
iMicro納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測(cè)試等多種納米機(jī)械測(cè)試。 可互換的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移,使研 更多詳細(xì)