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詳細內(nèi)容
產(chǎn)品描述
iNano采用InForce 50驅(qū)動器進行納米壓痕和通用納米機械測試。 InForce 50的50mN力荷載和50μm位移范圍使得該系統(tǒng)適合各種測試。 InView軟件是一個靈活的現(xiàn)代軟件包，可以輕松進行納米測試。 iNano是內(nèi)置高速InQuest控制器和隔振門架的緊湊平臺。 該系統(tǒng)可以測試金屬、陶瓷、復合材料、薄膜、涂層、聚合物、生物材料和凝膠等各種不同的材料和器件。
主要功能
InForce 50驅(qū)動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭
獨特的軟件集成探頭校準系統(tǒng)，可實現(xiàn)快速準確的探頭校準
InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)
XY移動系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架
帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡，可實現(xiàn)精確的壓痕定位
ISO 14577和標準化測試方法
InView軟件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus報告、InView大學在線培訓和InView移動應用程序
主要應用
硬度和模量測量(Oliver Pharr)
高速材料性質(zhì)分布
ISO 14577硬度測試
聚合物tan delta，儲存和損耗模量
樣品加熱
工業(yè)應用
大學、研究實驗室和研究所
半導體和封裝行業(yè)
聚合物和塑料
MEMS（微機電系統(tǒng)）/納米通用測試
陶瓷和玻璃
金屬和合金
制藥
涂料和油漆
聚合物制造
復合材料
電池和儲能
應用
硬度和模量測量 (Oliver-Pharr)
機械表征在薄膜的加工和制造中至關重要，其中包括汽車工業(yè)中的涂層質(zhì)量，以及半導體制造段和后段的工藝控制。
iNano納米壓痕儀能夠測量從超軟凝膠到硬涂層的各種材料的硬度和模量。 對這些特性的高速評估保證了在生產(chǎn)線上進行質(zhì)量控制。
高速材料性質(zhì)分布
對于包括復合材料在內(nèi)的許多材料，其機械性能可能因部位而異。 iNano的樣品平臺可以在X軸和Y軸上移動100mm，并在Z軸方向移動25mm，這使得該系統(tǒng)適用于不同的樣品高度并可以在很大的樣品區(qū)域上進行測量。 可選的NanoBlitz形貌和層析成像軟件可以快速繪制任何測得的機械屬性的彩色分布圖。
ISO 14577硬度測試
iNano納米壓痕儀包括預先編寫的ISO 14577測試方法，可測量符合ISO 14577標準的材料硬度。 該測試方法對楊氏模量、儀器硬度、維氏硬度和標準化壓痕進行自動測量和報告。
聚合物Tan Delta、儲存和損失模量
iNano納米壓痕儀能夠針對包括粘彈性聚合物的超軟材料測量tan delta和儲存與損耗模量。 儲存與損耗模量以及tan delta是粘彈性聚合物的重要特性，其能量作為彈性能量存儲并作為熱量消耗。 這兩個指標都用于測量給定材料的能量消耗。
高溫納米壓痕測試
高溫下的納米壓痕對于表征熱應力下的材料性能至關重要，特別對熱機械工藝中的失效機理進行量化。 在機械測試期間改變樣品溫度不僅能夠測量熱引起的行為變化，還能夠量化在納米別上不易測試的材料過渡塑性。
關鍵詞：納米壓痕 楊氏模量 硬度
納米壓痕
InSEM®HT（高溫）通過在真空環(huán)境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨立的真空工作室兼容 更多詳細納米壓痕
NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)中，NanoFlip在測試（例如柱壓 更多詳細納米壓痕
NanoIndenter G200X納米力學測試平臺，簡單易用，能夠快速準確的提供各種定量的力學測試結果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學性能，從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品，并針對不同應用提供綜 更多詳細納米壓痕
iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測試等多種納米機械測試。 可互換的驅(qū)動器能夠提供大動態(tài)范圍的力荷載和位移，使研 更多詳細
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