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產(chǎn)品屬性本產(chǎn)品采購(gòu)屬于商業(yè)貿(mào)易行為

納米壓痕

  • 市場(chǎng)價(jià)格： 電議
  • 產(chǎn)品型號(hào)： G200X
  • 更新時(shí)間： 2024/10/18 10:31:15
  • 生產(chǎn)地： 美洲
  • 訪問(wèn)次數(shù)： 136次

    • 公司名稱： 深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司

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企業(yè)類型：代理商

公司地址：成都市成華區(qū)建設(shè)路

主營(yíng)產(chǎn)品：科研儀器儀表

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
NanoIndenter G200X納米力學(xué)測(cè)試平臺(tái)，簡(jiǎn)單易用，能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測(cè)試結(jié)果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能，從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品，并針對(duì)不同應(yīng)用提供綜合全面的納米力學(xué)測(cè)試升選件和解決方案。

詳細(xì)內(nèi)容

詳細(xì)內(nèi)容

公司簡(jiǎn)介
 

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產(chǎn)品詳情

Nano Indenter G200X可提供納米的力學(xué)測(cè)試功能，簡(jiǎn)單易用，能夠精確進(jìn)行各種力學(xué)定量分析。G200X系統(tǒng)中配置了高精度納米馬達(dá)樣品臺(tái)、 大的樣品安裝系統(tǒng)和高分辨率光學(xué)顯微鏡。InView軟件、InQuest控制器和InForce驅(qū)動(dòng)器讓KLA全線壓痕產(chǎn)品系列具有一致的卓 越性能。 G200X系統(tǒng)可選功能包括連續(xù)剛度測(cè)量(CSM)、掃描探針顯微成像、劃痕測(cè)試、動(dòng)態(tài)力學(xué)分析頻率掃描，、IV電壓電流特性測(cè)試、超高速壓痕測(cè)試和沖擊測(cè)試等等。

 

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主要功能

  • 電磁驅(qū)動(dòng)器可輕松實(shí)現(xiàn)載荷和位移的寬動(dòng)態(tài)范圍的控制

  • 高分辨率光學(xué)顯微鏡與精密XYZ 移動(dòng)系統(tǒng)結(jié)合，實(shí)現(xiàn)高精度觀察與定位測(cè)試樣本。

  • 便捷的樣本安裝臺(tái)與多樣本定位設(shè)置功能實(shí)現(xiàn)高通量測(cè)試。

  • 高度模塊化設(shè)計(jì)，設(shè)備提供掃描探針成像功能、劃痕及磨損測(cè)試功能、高溫納米力學(xué)測(cè)試功能、連續(xù)剛度測(cè)試(CSM) 和高速3D及4D力學(xué)圖譜等模塊化升選件。

  • 直觀的用戶操作界面便于快速的進(jìn)行測(cè)試設(shè)置；僅需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)即可完成復(fù)雜測(cè)試的參數(shù)設(shè)置。

  • 實(shí)時(shí)高效的實(shí)驗(yàn)控制，簡(jiǎn)單易用的測(cè)試流程開(kāi)發(fā)和測(cè)試參數(shù)設(shè)置。

  • 全新的InView軟件，提供用于分析數(shù)據(jù)的Review軟件和生成各種綜合性測(cè)試報(bào)告的 InFocus軟件。

  • 獨(dú) 家發(fā)明并獲得美國(guó)R&D獎(jiǎng)的材料表面力學(xué)圖譜功能和高速測(cè)試功能，大的提高了定量數(shù)據(jù)的可靠性。

  • InQuest高速數(shù)字控制器，數(shù)據(jù)采集速率 高可達(dá)100kHz，時(shí)間響應(yīng)常數(shù)快為20µs。

 

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主要應(yīng)用

  • 高速硬度和模量測(cè)量 (基于Oliver-Pharr 模型)

  • 高速材料表面力學(xué)特性分布測(cè)量

  • ISO 14577 標(biāo)準(zhǔn)化硬度測(cè)試

  • 薄膜及涂層測(cè)試

  • 界面附著力測(cè)量

  • 斷裂韌性測(cè)量

  • 粘彈性測(cè)量,儲(chǔ)能模量和損耗模量及損耗因子

  • 掃描探針顯微成像（3D 成像）

  • 定量劃痕和磨損測(cè)試

  • 高溫納米壓痕測(cè)試

  • IV電學(xué)測(cè)試

 

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行業(yè)分布

  • 高校、科研實(shí)驗(yàn)室和研究所

  • 半導(dǎo)體芯片行業(yè)

  • PVD/CVD 硬質(zhì)涂層（DLC、TiN)

  • MEMS：微機(jī)電系統(tǒng)/納米通用測(cè)試

  • 陶瓷與玻璃

  • 金屬與合金

  • 制藥

  • 膜層材料與油漆

  • 復(fù)合材料

  • 電池與儲(chǔ)能

  • 汽車與航空航天

 

應(yīng)用

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硬度與模量測(cè)試 (Oliver-Pharr模型)

在薄膜的工藝控制和制造過(guò)程中，表征其力學(xué)性能至為重要，其中包括汽車行業(yè)的涂層質(zhì)量，以及半導(dǎo)體制造中的道和后道工藝控制等。

G200X納米壓痕儀可在寬泛材料上測(cè)量硬度和模量，對(duì)從超軟凝膠類樣品到硬質(zhì)涂層等各種材料提供解決方案。更快，更好和更具成本效益的解決方案為生產(chǎn)線提供可靠的品質(zhì)控制及保障。

 

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高速材料力學(xué)性能圖譜功能

對(duì)于包括復(fù)合材料在內(nèi)的許多材料而言，不同區(qū)域之間的力學(xué)性能可能會(huì)有很大差異。 G200X系統(tǒng)能夠在X軸和Y軸方向上各提供 100 毫米的樣品臺(tái)移動(dòng)，并在Z軸方向上提供25毫米的移動(dòng)，在大面積樣本區(qū)域下輕松表征不同厚度，寬度，長(zhǎng)度的樣本�？缮x件NanoBlitz 力學(xué)形貌圖譜和斷層譜圖 軟件能夠快速輸出力學(xué)性能的彩色分布圖。

 

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ISO 14577 硬度測(cè)試

Nano Indenter G200X 包括預(yù)先內(nèi)置的ISO 14577測(cè)試方法，可根據(jù)ISO 14577 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量材料硬度。該測(cè)試方法可以自動(dòng)測(cè)量并輸出楊氏模量、儀表硬度、維氏硬度和歸一化壓痕功。

 

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界面附著力測(cè)試

膜層材料的界面粘附性的測(cè)量對(duì)于幫助用戶了解薄膜的失效模式至關(guān)重要。內(nèi)應(yīng)力的存在常常會(huì)導(dǎo)致鍍層樣品的薄膜分層現(xiàn)象，Nano Indenter G200X系統(tǒng)可以通過(guò)膜層界面的斷裂及黏附特性和殘余應(yīng)力等性能的測(cè)試，實(shí)現(xiàn)對(duì)多層界面的性能評(píng)估。

 

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斷裂韌性測(cè)試

斷裂韌性反映了結(jié)構(gòu)阻止宏觀裂紋失穩(wěn)擴(kuò)展能力，是結(jié)構(gòu)抵抗裂紋脆性擴(kuò)展的參數(shù)。低斷裂韌性值意味著樣品存在的缺陷。G200X特有的剛度成像功能可以輕松地對(duì)材料的斷裂韌性進(jìn)行評(píng)估。（剛度分布測(cè)量需要連續(xù)剛度測(cè)量和NanoVision選件）

 

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粘彈材性測(cè)試

聚合物是結(jié)構(gòu)異常復(fù)雜的材料，力學(xué)性能易受其化學(xué)特性、加工工藝和熱力學(xué)歷史的影響。力學(xué)性能取決于母鏈的類型和長(zhǎng)度、支化、交聯(lián)、應(yīng)變、溫度和頻率等，而這些因素通常是相互關(guān)聯(lián)的。G200X可在特定測(cè)試環(huán)境中對(duì)相關(guān)聚合物樣本進(jìn)行力學(xué)測(cè)試，為聚合物高分子材料設(shè)計(jì)參數(shù)決策提供了有價(jià)值的數(shù)據(jù)信息。/p>

納米壓痕測(cè)試所需樣本尺寸小，樣本制備要求簡(jiǎn)單，可高效簡(jiǎn)化這種特定環(huán)境的測(cè)量。Nano Indenter G200X 系統(tǒng)還可以通過(guò)與材料充分接觸的同時(shí)激發(fā)高頻振動(dòng)來(lái)測(cè)量聚合物樣品的復(fù)合模量和粘彈性。

 

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掃描探針顯微成像 (3D 成像)

Nano Indenter G200X 系統(tǒng)提供兩種掃描探針顯微成像方式，用戶可利用三維成像來(lái)表征斷裂韌性研究中產(chǎn)生的裂紋長(zhǎng)度等。 Nano Indenter G200X 與NanoVision選件結(jié)合，可提供高達(dá)1nm步進(jìn)的橫向分辨率的高精度PZT樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)高精度定位，100µm x 100µm的 大橫向掃描范圍。Nano Indenter G200X測(cè)試平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)的高精度X/Y 納米馬達(dá)臺(tái)與Inview 軟件及掃描測(cè)量選件結(jié)合，可提供500µm x 500µm的 大橫向掃描范圍。

 

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定量劃痕和磨損測(cè)試

G200X 系統(tǒng)可以對(duì)多種材料進(jìn)行劃痕和磨損測(cè)試。在涂層和薄膜經(jīng)過(guò)化學(xué)機(jī)械拋光 (CMP) 和引線鍵合等的多種工藝處理的時(shí)候，其強(qiáng)度及其對(duì)基材的附著力會(huì)備受考驗(yàn)。在加工工藝中，材料是否能抵抗塑性變形并保持完整而不從襯底上起泡非常重要。理想情況下，介電材料具有高硬度和高彈性模量，因?yàn)檫@些參數(shù)有助于了解材料在制造工藝中的性能變化。


關(guān)鍵詞：納米壓痕  楊氏模量  硬度  

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