納米壓痕
InSEM®HT(高溫)通過在真空環(huán)境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)工作室,或獨立的真空工作室兼容 更多詳細納米壓痕
NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)中,NanoFlip在測試(例如柱壓 更多詳細納米壓痕
iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測試等多種納米機械測試。 該儀器的力荷載和位移測量動態(tài)范圍很大,因而 更多詳細納米壓痕
NanoIndenter G200X納米力學測試平臺,簡單易用,能夠快速準確的提供各種定量的力學測試結果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學性能,從硬質涂層到超軟聚合物樣品,并針對不同應用提供綜 更多詳細