用于高品質(zhì)成像與高分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測，4步工作流程，高的分析性能

將高的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

▲用于清晰成像的靈活探測

 利用先進(jìn)探測術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。

 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

 利用新一代的二次探測器，獲取高達(dá)50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對比度的銳利的圖像。

▲自動化加速工作流程

  4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)先，先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

  先，先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

  接下來對樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動采集圖像。后使用工作流程的后一步，將結(jié)果可視化。

▲高分析型顯微鏡

  將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 一流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。

  在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

  獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

 配件

 ▲SmartEDX

   為您帶來一體化能譜分析解決方案

  單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品，研究人員就需要在SEM中采用能譜儀（EDS）來進(jìn)行顯微分析。通過針對低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案，您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于：

  優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用，并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過率，可以探測輕元素的低能X射線。

 工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面大地改善了易用性，以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。    完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持，由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。

 ▲拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

完全集成化的拉曼成像

 在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果，獲得材料更豐富的表征信息。通過擴(kuò)展蔡司Sigma 300，使其具備共聚焦拉曼成像功能，您能夠獲得樣品中獨一無二的化學(xué)指紋信息，從而指認(rèn)其成分。

 識別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息

 可進(jìn)行3D分析，在需要時可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。

 完全集成RISE讓您體驗由先進(jìn)的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來的優(yōu)勢。
 

深圳華普通用科技有限公司，業(yè)提供實驗室分析測試儀器和自動化方案。公司分為儀器代理和自主研發(fā)兩大業(yè)務(wù)板塊。代理業(yè)務(wù)是和國際儀器公司合作，從事設(shè)備代理以及售后服務(wù)。自主研發(fā)業(yè)務(wù)是綜合運用自動化、機(jī)器人、計算機(jī)視覺以及人工智能等技術(shù)，為客戶提供標(biāo)準(zhǔn)化儀器和自動化解決方案，降低實驗室人員工作強(qiáng)度，提升工作效率，同時提高工作質(zhì)量。

華普通用擁有一支高效的研發(fā)團(tuán)隊和技術(shù)型的銷售隊伍，在公司十多年的發(fā)展過程中累了大量的行業(yè)案例和經(jīng)驗。華普通用愿通過不懈的努力，與廣大客戶、合作伙伴精誠合作，始終注于為客戶提供智慧實驗室解決方案，助力客戶成功！