主要技術(shù)指標

測量包括：

•   遷移率測試

•   DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs

•   AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs

•   載流子濃度測試

•   電阻率測試

•   電阻測量

•   低電阻范圍 1uohm to 1Mohm

•   寬電阻范圍 1uohm to 100Gohm

•   高電阻范圍 1ohm to 100Gohm

•   范德堡法測試范圍

•   霍爾巴法測試

磁帽:

•   可更換帽

•   標準25mm

•   在0-130mm間距連續(xù)可調(diào)

•   更大帽直徑可選,50mm,75mm

電磁鐵:

•   ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface

•   ±35V, ±70A電源

•   磁場>±IT@25mmpolegap

•   線圈電阻: 0.5 Ω (20°C)

•   水冷

溫度選項:

•   低溫 3K-300K

•   高溫300K-1273K

納米磁學(xué)高斯計:

•   磁場掃描采用集成高斯計

•   磁場校準采用霍爾探頭

•   高靈敏度的磁場測量

•   所有參數(shù)可通過軟件控制

樣品架:

•   4,6 or8范德堡或霍爾巴測試設(shè)計

•   易于樣品安裝與彈簧連接

•   5mmx5mm樣品大小(提供更大選件)

•   多個樣品安裝

控制器和軟件:

•   使用我們軟件可逐層的進行遷移率分析

•   基于C# 的全自動軟件分析

•   非常寬的溫度測試范圍,3-1,300K

•   采用高斯計進行磁場的控制

•   非常容易的進行范德堡霍爾巴方法樣品測試

•   提供軟件終生升