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日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。 更多詳細(xì)日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日立高新技術(shù)公司全新開發(fā)的冷場(chǎng)電子槍，實(shí)現(xiàn) 更多詳細(xì)日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。近年來，以Materials In 更多詳細(xì)日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。 更多詳細(xì)
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