ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡（三維光學(xué)輪廓儀）

ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡是表面輪廓儀功能。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測(cè)量，高分辨率成像和用戶友好的界面，

ContourGT-K是滿足基本計(jì)量和成像需求的實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量系統(tǒng)。

ContourGT-K是非接觸表面表征和成像域超過(guò)三十年有光學(xué)和行業(yè)。 ContourGT系列基于Wyko®技術(shù)構(gòu)建，具有大的算法和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使布魯克成為可靠測(cè)量的 。發(fā)貨，每個(gè)單元都經(jīng)過(guò)我們美國(guó)工廠的嚴(yán)格認(rèn)證。除其他規(guī)格外，還對(duì)它們進(jìn)行了測(cè)試，使其均方根（RMS）重現(xiàn)性<0.03nm或更高，步長(zhǎng)1 sigma重現(xiàn)性<0.1％。

原理：

利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量，從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。測(cè)量jing度決定于測(cè)量光程差的jing度，干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長(zhǎng)(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長(zhǎng)為單位測(cè)量光程差的，其測(cè)量jing度之高是任何其他測(cè)量方法所無(wú)法比擬的。