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天瑞熒光測厚儀EDX600PLUS鍍層測厚儀是江蘇天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經(jīng)驗，專門研發(fā)的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。天瑞熒光測厚儀對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行檢測,幫助企業(yè)準確核算成本及質(zhì)量管控。下照式設計，一鍵式的按鈕，極大減少擺放樣品時間�？蓮V泛應用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領域。
天瑞熒光測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線，所以不會對樣品造成損壞。天瑞熒光測厚儀同時，測量的也可以在10-40秒內(nèi)完成。 隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。天瑞熒光測厚儀內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為電子，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。
鍍層測厚儀是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從S到U。 可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。 滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態(tài)，設定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
電鍍層鍍層測厚儀它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)幾十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到50μm。電鍍鍍層測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優(yōu)點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。
X熒光鍍層測厚儀性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。天瑞一直于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。 X熒光鍍層測厚儀特點-簡易： 對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。天瑞一直于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服
